JJG 82-2010 公法线千分尺.pdf
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1、中华人民共和国国家计量检定规程J J G8 22 0 1 0公 法 线 千 分 尺C o mm o nN o r m a lM i c r o m e t e r 2 0 1 0-0 3-0 2发布2 0 1 0-0 9-0 2实施国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布学兔兔 标准下载公法线千分尺检定规程V e r i f i c a t i o nR e g u l a t i o no fC o mm o nN o r m a lM i c r o m e t e rJ J G8 22 0 1 0代替J J G8 21 9 9 8 本规程经国家质量监督检验检疫总局于2 0
2、1 0年3月2日批准,并自2 0 1 0年9月2日起施行。归 口 单 位:全国几何量工程参量计量技术委员会 起 草 单 位:黑龙江省计量检定测试院桂林量具刃具有限责任公司广西壮族自治区计量检测研究院 本规程委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释J J G8 22 0 1 0学兔兔 标准下载 本规程主要起草人:梁玉红(黑龙江省计量检定测试院)赵伟荣(桂林量具刃具有限责任公司)全贻智(广西壮族自治区计量检测研究院)李旭辉(黑龙江省计量检定测试院)参加起草人:杨 琳(黑龙江省计量检定测试院)J J G8 22 0 1 0学兔兔 标准下载目 录1 范围(1)2 引用文献(1)3 概述(1)4 计
3、量性能要求(2)4.1 测量力(2)4.2 刻线宽度及宽度差(2)4.3 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离(2)4.4 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置(2)4.5 测量面及校对用量杆工作面的表面粗糙度(2)4.6 测量面的平面度(2)4.7 示值误差(2)4.8 校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量(3)4.9 漂移(3)5 通用技术要求(3)5.1 外观(3)5.2 各部分相互作用(4)6 计量器具控制(4)6.1 检定条件(4)6.2 检定项目(4)6.3 检定方法(5)6.4 检定结果的处理(7)6.5 检定周期(7)附录A 数显公法线千分尺示值误差测量结果的不确定度评
4、定(8)附录B 检定证书和检定结果通知书内页格式(1 2)J J G8 22 0 1 0学兔兔 标准下载公法线千分尺检定规程1 范围本规程适用于测量范围至2 0 0mm,分度值为0.0 1mm的机械公法线千分尺和分辨力为0.0 0 1mm的数显公法线千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。2 引用文献本规程引用下列文献:J J F1 0 0 11 9 9 8 通用计量术语及定义J J F1 0 5 91 9 9 9 测量不确定度评定与表示J J F1 0 9 42 0 0 2 测量仪器特性评定J J F1 1 3 02 0 0 5 几何量测量设备校准中的不确定度评定指南G B/T1 2 1 7
5、2 0 0 4 公法线千分尺使用本规程时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。3 概述公法线千分尺包括机械公法线千分尺和数显公法线千分尺,是应用螺旋副传动原理将回转运动变为直线位移,并应用刻线细分或电子数显原理进行读数的一种量具。用于测量模数不小于0.6mm的外圆柱齿轮的公法线长度。见图1、图2。图1 机械公法线千分尺1尺架;2固定测砧;3测杆;4锁紧装置;5固定套管;6微分筒;7测力装置;8隔热板;9校对用的量杆1J J G8 22 0 1 0学兔兔 标准下载图2 数显公法线千分尺1尺架;2固定测砧;3测杆;4锁紧装置;5显示器;6棘轮套;7棘轮;8按钮4 计量性能要求4.1 测量力在(3
6、6)N范围内。测力变化不大于2N。4.2 刻线宽度及宽度差固定套管和微分筒上刻线宽度为(0.0 80.2 0)mm;宽度差不大于0.0 3mm。4.3 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离a应不大于0.4mm,如图3所示。图3 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离4.4 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置当微分筒零刻线与固定套管纵刻线对准后,微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的右边缘应相切。若不相切,压线不大于0.0 5mm,离线不大于0.1 0mm。4.5 测量面及校对用量杆工作面的表面粗糙度不大于Ra0.2 0m。4.6 测量
7、面的平面度不大于1.2m(距边缘0.5mm范围内不计)。4.7 示值误差4.7.1 公法线千分尺示值误差2J J G8 22 0 1 0学兔兔 标准下载示值最大允许误差不超过表1规定。表1 示值最大允许误差mm0L2 50.0 0 42 5L5 00.0 0 45 0L7 50.0 0 57 5L1 0 00.0 0 51 0 0L1 2 50.0 0 61 2 5L1 5 00.0 0 61 5 0L1 7 50.0 0 71 7 5L2 0 00.0 0 74.7.2 数显公法线千分尺传感器的细分误差细分误差不大于0.0 0 2mm。4.8 校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量校对用量杆尺寸偏差
8、和尺寸变动量不超过表2规定。表2 校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量mm标称尺寸尺寸偏差尺寸变动量2 50.0 0 20.0 0 15 00.0 0 20.0 0 17 50.0 0 30.0 0 151 0 00.0 0 30.0 0 21 2 50.0 0 40.0 0 21 5 00.0 0 50.0 0 251 7 50.0 0 50.0 0 254.9 漂移数显公法线千分尺在1h内的漂移不大于1个分辨力值。5 通用技术要求5.1 外观5.1.1 首次检定的公法线千分尺及校对用量杆不应有锈蚀、碰伤、镀层脱落等外观缺陷,刻线应清晰、均匀。数显公法线千分尺不应有显示不全、闪跳等影响读数的缺陷。
9、5.1.2 公法线千分尺上应标有制造厂名(或商标)、出厂编号、测量范围及分度值/分辨力。5.1.3 测量上限大于2 5mm的公法线千分尺应附有调整测量下限用的校对量杆。5.1.4 公法线千分尺两测量面不应有目力可见的错位。5.1.5 当移动数显公法线千分尺的测微螺杆时,其数字显示应按顺序进位,无错乱显示现象。3J J G8 22 0 1 0学兔兔 标准下载5.1.6 后续检定和使用中检验的公法线千分尺允许有不影响使用准确度的外观缺陷。5.2 各部分相互作用5.2.1 运动部件的相互作用应灵活可靠,微分筒在全部测量范围内往返时必须平稳,无卡滞和摩擦现象。测微螺杆的转动应平稳,不应有卡滞和感觉到的
10、配合松紧不匀现象。5.2.2 锁紧装置的作用应切实有效、可靠。5.2.3 测微螺杆不应有手感觉到的轴向窜动和径向摆动。6 计量器具控制计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检验。6.1 检定条件6.1.1 环境条件环境条件见表3。表3 环境条件公法线千分尺测量范围上限(mm)室内温度对2 0时的允许偏差公法线千分尺校对用量杆平衡温度时间0Lm a x1 0 051 0 0Lm a x2 0 0424h6.1.2 检定用设备主要检定设备见表4。6.2 检定项目检定项目见表4。表4 检定项目和主要检定设备一览表序号检定项目主要检定设备首次检定后续检定使用中检验1外观 +2各部分相互作用 +3测
11、量力分度值不大于0.2N的测力计或同等准确度的测力装置MP E:2%+-4刻线宽度及宽度差工具显微镜MP E:(1m+L1 0-5)+-5微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离塞尺MP E:0.0 4 8mm+-6微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置 +4J J G8 22 0 1 0学兔兔 标准下载表4(续)序号检定项目主要检定设备首次检定后续检定使用中检验7测量面及校对用量杆工作面的表面粗糙度表面粗糙度比较样块MP E:+1 2%-1 7%+-8测量面的平面度2级平晶+-9示值误差5等(或3级)量块+1 0校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量立、卧式光学计MP E:0.2 5m4等(
12、或2级)量块+-1 1漂 移 +注:表中“+”表示应检定,“-”表示可以不检定6.3 检定方法6.3.1 外观目力观察。6.3.2 各部分相互作用目力观察和手动试验。6.3.3 测量力在全量程任意位置上测2次,应不大于测量力要求,两个测量力之差为测力变化。6.3.4 刻线宽度及宽度差在工具显微镜上对微分筒、固定套管上的刻线至少各抽检均匀分布的3条刻线。宽度差以最大值和最小值之差确定。6.3.5 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离用厚度为0.4mm的塞尺以比较法进行测量。测量时应在微分筒转动一周内不少于3个位置上进行。6.3.6 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置测量下限调整正
13、确后,使微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的右边缘相切时,读取微分筒零刻线与固定套管纵向刻线的偏移量,见图4。(a)压线0.0 3mm(b)离线0.0 3mm图4 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置6.3.7 测量面及校对用量杆工作面的表面粗糙度用表面粗糙度比较样块以比较法进行测量。6.3.8 测量面的平面度用平晶以光波干涉法进行测量。5J J G8 22 0 1 0学兔兔 标准下载6.3.9 示值误差6.3.9.1 公法线千分尺示值误差测量时,首先将千分尺的测量下限调至正确位置。对于(02 5)mm的公法线千分尺,用两测量面直接接触调整零位;对其他测量范围的用校对量杆或相应准确度的
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