GB∕T 2481.2-2020(代替GB∕T 2481.2-2009) 固结磨具用磨料 粒度组成的检测和标记 第2部分:微粉.pdf
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1、I C S2 5.1 0 0.7 0J4 3中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准G B/T2 4 8 1.22 0 2 0代替G B/T2 4 8 1.22 0 0 9固结磨具用磨料 粒度组成的检测和标记第2部分: 微粉B o n d e da b r a s i v e sD e t e r m i n a t i o na n dd e s i g n a t i o no fg r a i ns i z ed i s t r i b u t i o nP a r t 2:M i c r o g r i t s(I S O8 4 8 6 - 2:2 0 0 7,B o n d e d
2、a b r a s i v e sD e t e r m i n a t i o na n dd e s i g n a t i o no f g r a i ns i z ed i s t r i b u t i o nP a r t 2:M i c r o g r i t sF 2 3 0t oF 2 0 0 0,MOD)2 0 2 0 - 0 4 - 2 8发布2 0 2 0 - 1 1 - 0 1实施国 家 市 场 监 督 管 理 总 局国 家 标 准 化 管 理 委 员 会发 布目 次前言1 范围12 规范性引用文件13 术语和定义14 粒度组成与粒度分级1 4.1 微粉系列1 4.
3、2 粒度组成1 4.3 粒度分级25 微粉的检测4 5.1 总则4 5.2 允许偏差4 5.3 检测方法的标记56 检测方法5 6.1 X射线重力沉降法5 6.2 电阻法8 6.3 沉降管法1 07 标记2 08 标志2 0附录A( 资料性附录) 本部分与I S O8 4 8 6 - 2:2 0 0 7相比的结构变化情况2 1附录B( 资料性附录) 用沉降管粒度仪检测F系列微粉、J系列微粉粒度的记录表格2 3附录C( 资料性附录) 电熔刚玉粒度组成检测数据处理示例2 4G B/T2 4 8 1.22 0 2 0前 言 G B/T2 4 8 1 固结磨具用磨料 粒度组成的检测和标记 分为以下2个
4、部分: 第1部分: 粗磨粒F 4F 2 2 0; 第2部分: 微粉。本部分为G B/T2 4 8 1的第2部分。本部分按照G B/T1.12 0 0 9给出的规则起草。本部分代替G B/T2 4 8 1.22 0 0 9 固结磨具用磨料 粒度组成的检测和标记 第2部分: 微粉 , 与G B/T2 4 8 1.22 0 0 9相比, 除编辑性修改外主要技术变化如下: 修改了微粉的定义( 见第3章,2 0 0 9年版的第3章) ; 将检测方法中“ 光电沉降仪法” 修改为“X射线重力沉降法” ( 见6.1,2 0 0 9年版的6.2) ; 增加了电阻法检测F系列微粉粒度组成的内容( 见6.2.7.1
5、) ; 修改了沉降管法检测的相关内容( 见6.3,2 0 0 9年版的6.3) 。本部分使用重新起草法修改采用I S O8 4 8 6 - 2:2 0 0 7 固结磨具用磨料 粒度组成的检测和标记 第2部分: 微粉F 2 3 0F 2 0 0 0 。本部分与I S O8 4 8 6 - 2:2 0 0 7相比在结构上有较多调整, 附录A中列出了本部分与I S O8 4 8 6 - 2:2 0 0 7的章条编号对照一览表。本部分与I S O8 4 8 6 - 2:2 0 0 7的技术性差异及其原因如下: 关于规范性引用文件, 本部分做了具有技术性差异的调整, 以适应我国的技术条件, 调整的情况集
6、中反映在第2章“ 规范性引用文件” 中, 具体调整如下: 删除了I S O8 4 8 6 - 1; 增加引用了G B/T4 6 7 6; 增加引用了G B/T1 6 4 5 8; 修改了微粉的定义, 以完善其内容, 并与我国标准体系一致; 增加了精密研磨用J 2 4 0 J 8 0 0 0微粉的内容, 以满足我国的实际生产和应用需要; 删除了I S O8 4 8 6 - 2:2 0 0 7中4.2的计算内容, 因为其仅适用于表1中的粒度系列, 而不适用于其他粒度系列; 删除了I S O8 4 8 6 - 2:2 0 0 7中X射线重力沉降法检测的原理内容, 因为实际检测中并不需要利用其进行计算
7、; 删除了I S O8 4 8 6 - 2:2 0 0 7中的表1 1、 表1 2和表1 3, 同时增加了参数K值的详细计算公式, 以适应我国的实际情况。本部分做了下列编辑性修改: 修改了标准名称; 修改了范围的表述方式; 删除了I S O8 4 8 6 - 2:2 0 0 7中的资料性附录A。本部分由中国机械工业联合会提出。本部分由全国磨料磨具标准化技术委员会(S A C/T C1 3 9) 归口。本部分起草单位: 郑州磨料磨具磨削研究所有限公司、 珠海真理光学仪器有限公司、 淄博金纪元研磨材有限公司、 平顶山易成新材料有限公司。G B/T2 4 8 1.22 0 2 0本部分主要起草人:
8、包华、 张良、 张福根、 丁建平、 夏军、 王伟涛、 苏燕、 马亚飞。本部分所代替标准的历次版本发布情况为: G B/T2 4 7 71 9 8 3、G B/T2 4 8 11 9 8 3; G B/T2 4 8 1.21 9 9 8、G B/T2 4 8 1.22 0 0 9。G B/T2 4 8 1.22 0 2 0固结磨具用磨料 粒度组成的检测和标记第2部分: 微粉1 范围G B/T2 4 8 1的本部分规定了刚玉、 碳化硅微粉F 2 3 0F 2 0 0 0、J 2 4 0J8 0 0 0的术语和定义、 粒度组成与粒度分级、 微粉的检测、 检测方法、 标记和标志。本部分适用于制造固结磨
9、具和一般工业用途的微粉, 精密研磨用的微粉, 从固结磨具回收的微粉,以及用于抛光的松散微粉。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件, 仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件, 其最新版本( 包括所有的修改单) 适用于本文件。G B/T4 6 7 6 普通磨料 取样方法(G B/T4 6 7 62 0 1 8,I S O9 1 3 8:2 0 1 5,MO D)G B/T1 6 4 5 8 磨料磨具术语3 术语和定义G B/T1 6 4 5 8界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1微粉 m i c r o g r i t s用沉降法或电阻法
10、检验其粒度组成时, 中值粒径ds 5 0( 或dv 5 0) 不大于6 4m的磨粒。4 粒度组成与粒度分级4.1 微粉系列本部分规定的微粉包括一般工业用途的F系列微粉和精密研磨用的J系列微粉两个系列, 粒度号前分别冠以字母“F” 和“J” 。4.2 粒度组成F系列微粉和J系列微粉的粒度组成根据下列准则确定:a) 最大粒粒径不应超过ds 0( 或dv 0) 的最大许可值;b) 在粒度组成曲线的3%点处, 其粒径( 理论粒径) 不应超过ds 3( 或dv 3) 的最大许可值;c) 在粒度组成曲线的5 0%点处, 其中值粒径( 理论粒径) 应在规定的ds 5 0( 或dv 5 0) 允许范围内;d)
11、 在粒度组成曲线的8 0%/7 5%、9 4%/9 5%点处, 其粒径( 理论粒径) 应达到ds 8 0( 或dv 7 5) 、ds 9 4/9 5( 或dv 9 4) 的最小许可值。此四条准则应同时满足。F系列微粉各粒度号的规定值见表1( 适用于X射线重力沉降法和电阻法, 对应于8 0%、9 4%值) , 表2( 适用于沉降管法, 对应于8 0%、9 5%值) ;J系列微粉各粒度号的规定值1G B/T2 4 8 1.22 0 2 0见表3( 适用于沉降管法, 对应于9 4%值) , 表4( 适用于电阻法, 对应于7 5%、9 4%值) 。4.3 粒度分级F系列微粉若按X射线重力沉降法和电阻法
12、测量分为1 3个粒度号, 中值粒径从5 3m1.2m( 见表1) , 本系列与F系列粗磨粒的最细粒度号F 2 2 0(6 3m) 衔接, 并采用同样的公比, 即42;F系列微粉若按沉降管法测量分为1 1个粒度号, 中值粒径从5 5.7m7.6m( 见表2) 。J系列微粉若按沉降管法测量分为1 5个粒度号, 中值粒径从6 0m5.7m( 见表3) ;J系列微粉若按电阻法测量分为1 8个粒度号, 中值粒径从5 7m1.2m( 见表4) 。表1 F 2 3 0F 2 0 0 0微粉的粒度组成(X射线重力沉降法和电阻法)粒度标记ds 0最大值/mds 3最大值/mds 5 0中值粒径/mds 8 0最
13、小值/mds 9 4最小值/mF 2 3 08 2.05 3.03.03 4.0F 2 4 07 0.04 4.52.02 8.0F 2 8 05 9.03 6.51.52 2.0F 3 2 04 9.02 9.21.51 6.5F 3 6 04 0.02 2.81.51 2.0F 4 0 03 2.01 7.31.08.0F 5 0 02 5.01 2.81.05.0F 6 0 01 9.09.31.03.0F 8 0 01 4.06.51.02.0F 1 0 0 01 0.04.50.81.0F 1 2 0 07.03.00.51.0F 1 5 0 05.02.00.40.8F 2 0 0
14、 03.51.20.30.5表2 F 2 3 0F 1 2 0 0微粉的粒度组成( 沉降管法)粒度标记ds 0最大值/mds 3最大值/mds 5 0中值粒径/mds 8 0最小值/mds 9 5最小值/mF 2 3 01 2 07 7.05 5.73.03 8.0F 2 4 01 0 56 8.04 7.52.03 2.0F 2 8 09 06 0.03 9.91.52 5.0F 3 2 07 55 2.03 2.81.51 9.0F 3 6 06 04 6.02 6.71.51 4.0F 4 0 05 03 9.02 1.41.01 0.0F 5 0 04 53 4.01 7.11.07.
15、0F 6 0 04 03 0.01 3.71.04.6F 8 0 03 52 6.01 1.01.03.5F 1 0 0 03 22 3.09.10.82.4F 1 2 0 03 02 0.07.60.52.42G B/T2 4 8 1.22 0 2 0表3 J 2 4 0J 3 0 0 0微粉的粒度组成( 沉降管法)粒度标记ds 0最大值/mds 3最大值/mds 5 0中值粒径/mds 9 4最小值/mJ 2 4 01 2 7.09 0.06 0.04.04 8.0J 2 8 01 1 2.07 9.05 2.03.04 1.0J 3 2 09 8.07 1.04 6.02.53 5.0J
16、 3 6 08 6.06 4.04 0.02.03 0.0J 4 0 07 5.05 6.03 4.02.02 5.0J 5 0 06 5.04 8.02 8.02.02 0.0J 6 0 05 7.04 3.02 4.01.51 7.0J 7 0 05 0.03 9.02 1.01.31 4.0J 8 0 04 6.03 5.01 8.01.01 2.0J 1 0 0 04 2.03 2.01 5.51.09.5J 1 2 0 03 9.02 8.01 3.01.07.8J 1 5 0 03 6.02 4.01 0.51.06.0J 2 0 0 03 3.02 1.08.50.74.7J 2
17、 5 0 03 0.01 8.07.00.73.6J 3 0 0 02 8.01 6.05.70.52.8表4 J 2 4 0J 8 0 0 0微粉的粒度组成( 电阻法)粒度标记dv 0最大值/mdv 3最大值/mdv 5 0中值粒径/mdv 7 5最小值/mdv 9 4最小值/mJ 2 4 01 2 7.01 0 3.05 7.03.04 0.0J 2 8 01 1 2.08 7.04 8.03.03 3.0J 3 2 09 8.07 4.04 0.02.52 7.0J 3 6 08 6.06 6.03 5.02.02 3.0J 4 0 07 5.05 8.03 0.02.02 0.0J 5
18、 0 06 3.05 0.02 5.02.01 6.0J 6 0 05 3.04 3.02 0.01.51 3.0J 7 0 04 5.03 7.01 7.01.31 1.0J 8 0 03 8.03 1.01 4.01.09.0J 1 0 0 03 2.02 7.01 1.51.07.0J 1 2 0 02 7.02 3.09.50.85.5J 1 5 0 02 3.02 0.08.00.64.5J 2 0 0 01 9.01 7.06.70.64.0J 2 5 0 01 6.01 4.05.50.53.0J 3 0 0 01 3.01 1.04.00.52.0J 4 0 0 01 1.08
19、.03.00.41.3J 6 0 0 08.05.02.00.40.8J 8 0 0 06.03.51.20.30.63G B/T2 4 8 1.22 0 2 05 微粉的检测5.1 总则微粉的粒度组成用X射线重力沉降法、 电阻法或沉降管法进行检测。粒度组成的检测准则:a) 最大粒的粒径(ds 0或dv 0值) ;b) 粒度组成曲线3%点处的理论粒径(ds 3或dv 3值 ) ;c) 粒度组成曲线5 0%点处的理论粒径(ds 5 0或dv 5 0值) ;d) 粒度组成曲线8 0%/7 5%、9 4%/9 5%点处的理论粒径(ds 8 0或dv 7 5、ds 9 4/9 5或dv 9 4值) 。
20、5.2 允许偏差当对测量结果复测时, 应给出由于测量技术变化( 取样、 样品制备、 不同的操作人员和仪器等) 的允许误差。表5、 表6给出了F系列微粉的允许偏差。F系列微粉产品的粒度组成允许值, 应为表1、 表2之值分别加上此偏差。表5 因测试技术误差的允许偏差 X射线重力沉降法和电阻法单位为微米粒度标记允许偏差值ds 3ds 5 0ds 8 0ds 9 4F 2 3 0F 2 4 0+3.52.5-1.5F 2 8 0F 3 2 0F 3 6 0F 4 0 0+2.51.5-0.8F 5 0 0F 6 0 0F 8 0 0+2.01.0-0.5F 1 0 0 0F 1 2 0 0+1.50.
21、5-0.4-0.4F 1 5 0 0+1.00.4-0.3F 2 0 0 0+1.00.3-0.24G B/T2 4 8 1.22 0 2 0表6 因测试技术误差的允许偏差 沉降管法单位为微米粒度标记允许偏差值ds 3ds 5 0ds 8 0ds 9 5F 2 3 0F 2 4 0+1.51.5-1.5F 2 8 0F 3 2 0F 3 6 0F 4 0 0+1.51.0-1.5F 5 0 0F 6 0 0F 8 0 0+1.50.8-1.5F 1 0 0 0F 1 2 0 0+1.50.5-1.5-1.55.3 检测方法的标记微粉检测方法的标记如下( 应包括指明所使用的测量仪器) : 检测-
22、 F微粉X射线重力沉降法; 检测- F微粉沉降管法; 检测- J微粉电阻法。6 检测方法6.1 X射线重力沉降法6.1.1 总则X射线重力沉降技术是利用重力沉降来检测分散在液体中的微粉的粒度组成的一种方法。通过监测对X射线的增量信号吸收来测量液体悬浮液中固体物质的浓度。这种测量粒度组成的方法适用于能分散在液体中的微粉或以浆体形式存在的微粉。分析的典型的颗粒尺寸范围从大约0.1m到大约3 0 0m。这种方法被用来测量那些包含具有大致相同化学成分且能使X射线适当不透明的颗粒材料。6.1.2 检测装置测试装置由样品泵、 样品池、 样品池的定位和移动系统、X射线源( 通过样品池发射X射线到探测器) 、
23、 把X射线强度转换为浓度的转换器,X - Y记录仪和相应的电源( 结构框图见图1) 。5G B/T2 4 8 1.22 0 2 0 说明:1 样品池; 1 0 数字/位置转换器;2 狭缝;1 1 泵速;3 X射线探测器;1 2 样品泵;4 强度-浓度转换器;1 3 分散的样品及混合室;5 A D C( 模/数转换器) ;1 4 高压电源和灯丝变压器;6 浓度信号(Y) ;1 5 X射线管;7 微控制器和接口控制器;1 6 颗粒尺寸(X轴) 与颗粒的质量分数(Y轴) 曲线;8 D A C( 数/模转换器) ;1 7 电脑、 测量和输出软件。9 位置信号(X) ;图1 X射线重力沉降粒度仪结构框图
24、6.1.3 检测配备6.1.3.1 沉降介质用蒸馏水或蒸馏水与1,2 -乙二醇的混合液作沉降介质, 应满足表7的要求。6.1.3.2 分散剂用二磷酸四钠(N a4P2O7) 作为分散剂, 应满足表7的要求。6.1.3.3 黏度通过改变沉降介质中水的含量来调节黏度。黏度应精确测量。黏度值的允许偏差不应超过表7规定值的0.1m P as。6G B/T2 4 8 1.22 0 2 0表7 刚玉和碳化硅粒度检验用沉降介质与分散剂粒度号沉降介质(2 0)二磷酸四钠(N a4P2O7) 分散剂/ (g/L)刚玉碳化硅F 2 3 0F 2 4 01,2 -乙二醇9 5%黏度1 5.2m P as密度1.1
25、0 7g/c m30.20.2F 2 8 0F 3 2 0F 3 6 0F 4 0 01,2 -乙二醇7 4%黏度7.7m P as密度1.0 9 1g/c m30.20.2F 5 0 0F 6 0 0F 8 0 0蒸馏水电导率5S0.4 50.20.1F 1 0 0 0F 1 2 0 0F 1 5 0 0F 2 0 0 0蒸馏水电导率5S0.4 5不添加6.1.4 F微粉标准砂1)检测以F微粉标准砂(MG) 为基准, 每份F微粉标准砂合格证上均附有ds 5 0标准值。检测值应以标准砂的标准值为基准进行校正。6.1.5 样品制备检测前样品宜用超声波分散, 以消除团聚。6.1.6 检测步骤应按照
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