JJG 200-80 外差式频率计检定规程.pdf
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1、中华 人民共和国计量器具检定规程外差式频率计J J G 2 0 0 -8 0外差式频率计检定规程V e r i f i c a t i o nHe t e r o d y n e州 e t e r sRe g u l a t i o n o f. 0 .令峥峥. 命. 令. 令峥、全iF r e q u e n c y; JJG 2 00 - 8 0全备、令 . 令 . 和 今 二 如如扩 本检定规程经国家计量总局于1 9 8 0 年 7月1 1 日批准,并自1 9 8 0 年1 2 月1 日起施行.归 口 单 位:四川省计量局起 草 单 位:成都市计量测试所主要起草人,吴文吉本规程技术条文由
2、起草单位负责解释。目录一、技术条件 ” ” ” “ “ ” ” ” “ 二 ”( 1 )二、检定条件“ ” ” , ” ” ” ” “ ” ” ” “ 二 ”( 1 )三、检定方法 ” “ ” 。 “ “ “ . ” ( 2)四、检定项目 “ ” “ ” , ” ” ( 2 )五、检定结果的处理 “ ” ,. ” ” “ ( 7 )附录” 一 ” ” . ” ” ” “ ” 二 ”( 8 )J J G2 0 0 一8 0共16页第 1页外差式频率计检定规程 本规程适用 于P w一1 、P w一2 、P w一3 、P W一10外差式频率计 ( 以下简称 P W一1 、P 丫 v 一2 、P w一
3、3 、P w一1 0) 主要技术指标检定,对于同类的其它型号的仪器,也可参照本规程进行检定. 一、技 术 条 件1 常用 外差式频率 计 ( 以下简称频率计)主要技术指标示 于表 1表1PW 一 1 0一二上5 X I 。 一 士 3X I O2 5 1 ) 日 M Hz拍夕 少6 0 分 钟、佘盲 一 之 之PW 一 1一PM7 一 2P W 一 3P、晶体频 率, M H zl1 0 仁 kHz O o k H z一 0 州晶振频 率准确 变士 1 0 H z土 3 又 Q 一 ,士 3洲1 0 一 5士 5精测 度盘准确 度低 波段 土。以 呱尚波段 士。 . o 3 呱 士l x1 0
4、 一 心土 1 又1 0 一 4士 召 汉 1 口 .士 3x1 o .粗测 度盘准 确度本振频 率 2 分 钟内 漂移1一一一 二 上一 士 3频 率微 识刻度盘 准确 度( 对 本损频 率而言 )侧频范 围1 2 5 k H Z 2 幻 M HZ洲k H z 3 O M l l zP W一10本扳频奉漂移检定:检定点频率等于或高于1 o ODMHz 时,应 预热 90分钟 . 二、检 定 条 件2 检定工作应在下述条件 卜 进行:2 . 1环境温度:20士10 (PW一1 准确度校准环境温度:2 。 共1 6 页第2页J J G 2 0 0 -8 0士5 C) 2 , 2环境湿度:8 0
5、% 2 , 3交流电源:2 2 0 比 ( 或1 1 0 伏)11 0 %, S O H Z , 3 在频率的整个检定过程中 ,确保标准频率仪- 一 电手 计数器( 以下简称计数器)测频准确度高于被检频率准确度一个数量级. 计数器测频技术指标: 频率:l O MH z 灵敏度: 1 0 0 m v 输人电 容: 2 5 p F 输人电 阻:高阻. 4 送 检频率计附件应当齐个井备有 出厂 “ 技 术说 明书”。 三、检 定 方 法采用计数器法检定.方框图如下:一 一仁口 图1 5 , 1将频率 计被检部分的输出 信号频 率加至计数器 测频输人端,进行频率测量,从计数器上直读或经计算求得被检频率
6、实际值。 5 , 2本法测量误差主要取决于计数器测频误差: 4f ,. . 1土 一于乙士石 7 o a7S s -A f0-wa f* 7Z 器 ( “ 振 , 频 率 锄度 1r 计数器闸门时间多! 。 频率标称值. 四、检 定 项 目( 一)外观及一般电气性能的检查:J J C2 0 0 -8 0共1 6 页 第3 贡 6 被检频率计不应有影响正常读数和工作性能的机械损伤 ( P W-1 0 本 振频率刻度须任检一点,以检查其刻度准确性, 测频器 测频准确 度应优于1 x 1 0 - a ). 7 电源接通后,仪器应进人正常工作状态. 8 频率 计在按技术 说明书规定的时间预热后, 方可
7、进行下列各项检定: ( 二)晶振频率准确度的检定: 9 频率准确度系指振荡器频 率实际值与其标 称值的相对偏差,以下式表示:d 一 f - ff a( 1 ) 式中:人 频率实际值, f . -符号含义同前. 1 0 置频率计“ 工作选择开关” 于相应位置和输出被检讯号频率: 1 0 . 1 P W-1 置 “ 晶体”档,直接从 “ 输入插孔” 或再经外部 1 兆赫放大器放大后输出. 1 0 . 2 P W-2 置“ 1 0 0 千赫晶体+ 晶体频谱”档,打开 整机后盖板,从底板上的 “ 输出 插W 输出 . 1 0 . 3 P W-3 置“ 校堆档 ( 或标淮晶 体7 1 i. 体+ 精测”
8、,精测置 “ 通”),精测波段 开关置 波段与波段 之间 ( 如A、B 之i+ i ),对G,( 混频器a )或Gs ( 射频放大器) 松祸合用导线绕1 0 - 2 0 围,制作成线圈,紧套管壁感应输出. 1 0 . 4 P W -1 0 置 1 。 兆赫”档,直接从 “ 输人插孔”或 再经外部1 0 兆赫放大器放大后或G , ( 2 兆赫多谐振荡器) a 脚输出. 1 1 用计数器测量输出信号的频率实际值,第一小时,每隔1 5 分钟测一次,以后每隔半小时测 一 次,共测二小时. 1 2 测量结果按( 1 ) 式计算误差,其值均应不大于允许误差( 参Il l表 1 ) .否则为下合格. 注:
9、计数器 显示频率 如为IIIA 振 颇率 A波 值,则 应以显 示值除 以判明 的洁 生次长 ,求得基 波颇率 .共1 6 贡第4 页J J G 2 0 0 -8 0 1 3 准确度校准依据 “ 技术说明书”介绍方法进行. 1 4 频率准确度校准以后,约需十分钟的稳定时间,以后每隔1 5分钟测一次,复测一小时. ( 三)精刚振荡器频率度盘准确度的检定: 1 5 依据 “ 技术说明书”介绍方法,用本机已检定合格的晶振频率对精测频率校准点( 参照表2、表3及P W-1 刻度手册) 进行自校. 1 6 置频率计 “ 工作选择开关 ”于相应位置 和输出被检讯号频率: 1 6 , 1 P W -1 置
10、“ 测试” 档,从 “ 输人插孔”输出. 1 6 , 2 P W - 2置 “ 信号输人 +精测 十 粗测”档 ,粗测波段开关置 5 或6波段( 或波段与波段之间,紧靠5或6波段处) ,从底板上的“ 输出插孔”输出. 1 6 , 3 P W-3 置 “ 精测”档( 或标准晶 体置“ 断” 精测 置 “ 通”) ,对G4 或G。 松祸合,感应输出。 1 7 旋精测度盘至频率检定点( 参见表2 , 表3 及 P W -1 刻度手册) ,用计数器测量输出讯号的频率实际值. 注:P W-1 以刻度手册上各晶体校准点所控制范围内的最低频率 ( 头刻度)和最高频 率 ( 尾 刻 之 )作 为脸定点 . 1
11、 8 测量结果按( 1 ) 式计算误差.P W-2精洲频串校准点和检定点衰 2B!CDFIGIH频 率 波 准 点 ( k H z ) 2500260 0 25002560263028002900310032003400350 036003700颧 率价定点( k Hz ):):) )一) 306314322个 :牛 :!个:):牛( 四)粗测振荡器领率度盘准确度的检定,1 9 置频率计 “ 工作 选择升关” 于 相应位置和输出 被检讯号频率:J a c 2 0 0 - s 0共i s 责 第5 责P W-3精测频率梭准点和检定点裹3ABCD300 031 0 03 20033 00颧 率 检
12、 足 点 ( k f : z )3 0003 0253 X 503 r i 7530 7531 0031 2531 弓日315 0317 5320 0322 5322 5325 0327 53 30 0 1 9 , 1 P W -2 置 “ 输 入讯 号+ 精测+ 粗测” 档, 从 “ 输出 插孔”或按四、 ( 三) , 1 6 , ( 2 ) 方法输出. 1 9 . 2 P W-3 置 “ 精测”档( 或标准晶 体置“ 断” ,精测 置 “ 通”)从 “ 输人插孔”或按 四、( 三)、1 6 , ( 3 )方法输出。 2 0 旋粗测度盘至频率检定点( 参见表 4 、 表 5 ) ,测量方法采
13、用以下两种的一种: ( a ) 用1 十 数器良 接测量从 P W-2“ 输出插孔, , 或P W-3“ 输人插孔”输出的粗测频率. ( b ) 旋精测度盘至粗测度盘相应频率附近, 当耳机中听到零拍时,用计数器测量按四、( 三) 、1 6 , ( 2 ) 或( 3 ) 方法输出的精测频率,经换算求得粗测频率实际值,换算公式如下 : 1 o=n 1 . ( 2 )式中:1 F精测频率实际值 了 。 粗测频率实际值 凡 谐波比例 2 1 测量结果按( 1 ) 式计算误差 PW-2粗浦频率位定点裹 4共1 6 页第6 贡a s C2 0 0 - 8 0P W-3粗侧颇率检定点表 5贡 一 言 丝 迢
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