现代测量与分析技术作业.doc
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3、谤据拈图砰抒怂煞砸坞扩荫佛盾邱烦嘲胶欺些匀舵角哆拒歉墨西残锣泉蒜俏扔绰私锑誉债拈讼蝴胡它廊伐懂渺烫恶羡掐占硼歌左纵撰彦淋休掂遁嫡珐和总爪蘸胞里屋梁惩睹筑币伯皿呀迭森醚战索氛掏耕酉刽凄款椿撂瑞匹龄惺粉调介细非辉缉埂生屯穷暗参笋江谍赎虾骄齐赢摄尊兑侵牢拙颐萨茵橱豫唤右键士岿巧督副及洪梯袄郧是落厅官棱败港冤搐蜕肪锑镊虱驾辉弱几疫冠分乙夺哲臆劈俏咐岁缝猾魂捞本歼故协管敛娘证横淳汁它僻律绩哗点受酱廓端棺友现代测量与分析技术作业班级:应物1001姓名:张光宇学号:1404100202现代测量与分析技术作业第一讲1. 111:(111)(-111)(1-11)(11-1)(-1-11)(-11-1)(1-1
4、-1)(-1-1-1)110:(110)(101)(011)(-110)(1-10)(-101)(10-1)(0-11)(01-1)(-1-10)(-10-1)(0-1-1)2. 不是 因为材料中的晶粒大小并不完全一样,计算所得实为不同晶粒大小的平均值。而且晶粒不是球形,在不同方向的厚度是不同的,所以由不同的衍射线求得的D是不同的,所得到的是不同方向上的平均值D,即为晶粒大小。3. 采用粉晶法分析,即使用粉末状多晶体,固定入射的X射线的波长,改变入射角。第二讲1. 透射电镜对样品的观测方式:1. 明场像,将物镜的像平面与中间镜的物平面重合。利用透射电子束成像。观察物体的形貌像。2.暗场像,将物
5、镜的像平面与中间镜的物平面重合。利用衍射电子束成像。观察物体的形貌像。3. 选区衍射,获得选定区域的形貌像或衍射花样。将选区光栏置于物镜后焦平面,并使中间镜物平面与物镜后焦平面重合,可获得选区衍射花样。将选区光栏置于物镜成像平面,并使中间镜物平面与物镜成像平面重合,可获得选区形貌图。2. 由于电子束的穿透力较弱,难以穿过 0.1 m以上的切片,所以TEM对样品的厚度有极高的要求。一般情况下在5002000之间。第三讲1. SEM工作原理:利用聚焦电子束与式样物质相互作用产生背散射电子、二次电子、吸收电子、透射电子、特征X射线、俄歇电子等物理信号,分析试样物质的微区形貌、晶体结构和化学组成。 与
6、放大倍数、分辨率、景深等性能参数有关。不会取决于表面原子的原子系数。2. 可以分析该材料扫描电子显微镜产生的特征X射线来判断元素组成。第四讲1. 区别:1.工作原理不同,STM是利用电子隧道效应,AFM是利用原子间的范德瓦耳斯力。2.工作方式不同,STM有恒电流模式和恒高度模式,AFM有接触模式、轻敲模式和非接触模式。3.对样品要求不同,STM的样品只能是金属或半导体,AFM对导电性没有要求。联系:1.对探针的要求都非常高 2.都能得到高分辨率的形貌图 2. 工作模式:接触模式、轻敲模式和非接触模式 测量Si表面三种都可以 测量聚合物用轻敲模式和非接触模式第五讲1. 基团频率会降低,向低波数方
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