锥光镜下光学性质.pptx

锥光镜下光学性质,第一节 锥光镜的装置及光学特点,在正交偏光镜（AAPP）的基础上，加上,聚光镜,，换用,高倍物镜,（40），推入,勃氏镜或去掉目镜,便成了锥光镜的装置。,图36 透过聚光镜后的锥形偏光,A-立体图；B-剖面图,加入聚光镜的作用,是使透出下偏光镜的平行偏光束变成锥形偏光束（图36）。,锥形偏光束,与平行偏光束的重要区别在于平行偏光束基本是同一方向垂直射入晶片；其特点：,锥形偏光束中除中央一条光波垂直射入晶片之外，其余各光波都是倾斜射入晶片，而且愈往外倾斜角度愈大，在晶片中所经历的路程愈长,。锥形光束的偏光，不管如何倾斜，其振动面仍与下偏光镜振动面平行。,非均质体的光学性质随方向而异，垂直不同方向入射光的光率体切面不同，其长短半径在晶片平面上的方位不同，它们与上、下偏光镜振动方向AA、PP之间的关系不完全相同。许多不同方向入射光波同时通过晶片后，到达上偏光镜所发生的消光与干涉效应也各不相同。因此，,锥光镜下观察到的，应当是各个不同方向入射光通过晶片后所产生的消光与干涉效应的总和,。它们构成了特殊的图形，称为,干涉图,。,图38 一轴晶垂直光轴切面的干涉图,A-双折射率较大的晶体；B-双折射率较小的晶体,换用高倍物镜作用,在于能接纳较大范围的倾斜入射光波，低倍物镜只能接纳与薄片法线成10,0,夹角以内的光波，高倍物镜可达120,0,（图37），使涉图较完整而且清晰。,图37 放大倍率不同的物镜，能接纳的倾斜光锥范围及所显示的干涉图,观察干涉图去掉目镜或推入勃氏镜是因为干涉图不是晶片本身 的形象，而是各个不同方向偏光同时通过晶片后，到达上偏光镜所产生的消光与干涉效应的总和。,干涉图的成像位置不在薄片平面上，而是在物镜的后焦平面上,。去掉目镜，能直接观察镜筒内物镜后焦平面上的干涉图实像。加上勃氏镜与目镜联合组成一个宽角望远式的放大系统，把物镜后焦平面的干涉图放大。,均质体晶体的光学性质各个方向一致，任何方向的入射光都不发生双折射，在正交偏光镜下全消光，锥光镜下看不到干涉图。非均质体的光学性质随方向而异，在锥光镜下能形成干涉图，其干涉图特点随晶体的轴性和切面方向而异。,第二节 一轴晶干涉图,一轴晶晶体的干涉图，因切面方向不同而不同，主要有三种类型，即,垂直光轴切面,，,斜交光轴切面,及,平行光轴切面的干涉图,。,一、垂直光轴切面的干涉图,1、图像特点,（图38）在平行目镜十字丝出现一个黑十字（又叫消光影），把视域分刈为四个象限，四个象限出现的颜色为干涉色。双折射率较大或薄片较厚的晶体干涉色呈同心圆状色环。黑十字交点为光轴出露点，近光轴处黑臂较细，远离黑光轴处黑臂较粗。转动物台360,0,不发生变化。,图38 一轴晶垂直光轴切面的干涉图,A-双折射率较大的晶体；B-双折射率较小的晶体,2、成因,在垂直光轴的切面中，只有中央一条光线平行光轴入射，其余各光线都是斜交光轴入射。根据光率体原理，除垂直中央一条光线的光率体切面为圆切面外，垂直其余各条斜交光轴入射光线的光率体切面都是椭圆切面，其长短半径的分布方向与大小随视域的不同方位入射光线的倾斜角度而不同（图39）。,图39 一轴晶垂直光轴切面的波向图（A）及黑十字成因（B）,在目镜十字丝及其近侧，其长短半径平行或近于平行上、下偏光镜的振动方向，而呈现消光，构成黑十字的消光影，而四个象限内大部分椭圆切面的半径都与上、下偏光镜的振动方向斜交，故不消光而产生干涉色。由于干涉图边缘部分圆切面长短半径之差（双折射率）比中心部分大；以及边缘部分光线倾斜角度大，通过薄片的路程也比中心部分长。,图39 一轴晶垂直光轴切面的波向图（A）及黑十字成因（B）,图40 干涉色色圈的成因（正光性）,所以由中心往外，随着入射光线与光轴夹角愈来愈大，光程差也由内向外相应地增加，其中与光轴夹角相等的各入射光线，光程差大小相等，故构成同心环状干涉色色圈，而且愈往外干涉色级序愈高（图40）。由于一轴晶垂直光轴切面上光率体椭圆半径分布图呈放射状均匀对称，所以转动物台360,0,，干涉图不发生变化。,3、垂直光轴切面干涉图的应用,A、,确定轴性及切面方向,根据干涉图的形象特点，可确定为一轴晶垂直光轴的切面。一轴晶其它方向切面及二轴晶切面不具这种特征的干涉图。,B、,测定光性符号,一轴晶晶体的光性正负是由Ne与No大小决定，当NeNo时为正光性，NeNo时，为负光性。而Ne与No在干涉图四个象限中的振动方向如图41，Ne为放射状，沿半径分布，No为同心圆状分布。,图41 一轴晶垂直光轴切面干涉图Ne与No的方位,选择适当的补色试板，插入后观察干涉色级序的变化，根据补色法则就能判断NeNo，还是NeNo，从而定出光性符号。若晶体干涉色较低，如一级灰，就可以采用石膏试板及云母试板进行测定光性符号，从、象限插入石膏试板（Np方向平行长边）后黑十字呈紫红色，对角象限干涉色产生相应的变化（图42）。,图42 一轴晶晶体光性符号的测定,若、象限干涉色由灰变蓝，为干涉色升高，说明同名半径平行，即半径方向为Ne=Ng，此一轴晶为正光性，反之，象限由灰这黄干涉色（石膏）降低（图43），说明异名半径平行，NeNo为负光性。,当晶体的双折射率较大或切面较厚时，四个象限为同心圆形色环（图44），此时采用云母试板或石英楔测定，根据补色法则定出正负光性。,图43 干涉图中黑十字四个象限办仅见一级灰干涉色时，加入石膏试板后的变化情况,图44 干涉图中黑十字四个象限内干涉色圈较多，加入云母试板后的变化情况,二、斜交光轴切面干涉图,1、图像特点,在斜交光轴的切面中，光轴的位置是倾斜的，光轴在晶体薄片平面上的出露点（黑十字交点）不在视域中心，所以出现不完整的黑十字和不完整的干涉色色圈。,当光轴与薄片法线交角不大时，光轴出露点，即黑十字的交点虽不在视域中心，但仍在视域内，转动物台黑十字的交点绕十字丝中心作圆周运动，黑臂相应地做平行或垂直十字丝移动（图45）,图45 斜交光轴切面干涉图（光轴倾角不大）,当光轴与薄片法线夹角较大时，光轴出露点落在视域外，视域中心见到一条黑臂（图46）。旋转物台，黑臂作水平或垂直平行移动，并交替出现在视域内。斜交光轴切面干涉图的成因，同样可用垂直光轴干涉图的形成加以解释。,图46 斜交光轴切面干涉图（光轴倾角较大）,2、斜交光轴切面干涉图的应用,A、,当光轴倾斜角度不大时，可以确定轴性及切面方向,。,B、,光性正负测定,干涉图中光轴出露点在视域内时，测定方法与垂直光轴切面干涉图测定方法完全相同。如果干涉图中光轴出露点在视域之外，就要确定视域属于哪一象限，而如能确定干涉图中光轴出露点的位置，可确定黑十字所分割象限的名称。确定光轴出露点的位置可根据黑十字的细端近光轴方向，粗端远离光轴；等色环凹向光轴方向；黑臂移动的情况。,黑臂移动情况（图47），顺时针转动物台，视域内出现一条水平黑臂向上移动，光轴出露点在视域左方，被黑臂分割的视域为、象限；水平黑臂向下移动，光轴出露点在视域右方，被黑臂分割的视域为、象限。视域内出现一条垂直黑臂向左移动，光轴出露点在视域的下方，被黑臂分割的视域为、象限；垂直黑臂向右移动，光轴出露点在视域上方，被黑臂分割的视域为、象限。只要确定了黑臂分割视域的象域名称，便可用前述同样的方法测定光性正负。,图47 转动物台时，斜交光轴切面干涉图中黑臂移动规律,三、平行光轴切面干涉图,1、图像特点,当光轴方向与上、下偏光镜振动方向之一平行时，为一粗大模糊的黑十字，几乎占据整个视域（图48A）。稍稍转动物台，粗大黑十字从中心分裂并沿光轴方向迅速退出视域，因变化迅速故称之为瞬变干涉图或闪图。当光轴方向与上、下偏光镜振动方向AA、PP成45,0,夹角时，视域最亮。,图48 一轴晶平行光轴切面的干涉图,如果晶体的双折射率值较大时，则在相对象限的边缘出现弧形干涉色色带（图48B）。,在光轴方向的两个象限内，干涉色由中心向两边逐渐降低,；在垂直光轴方向的两个象限内，干涉色由中心向两边逐渐升高。如果晶体的折射率较低，则不出现弧形干涉色带，而仅为一级灰白干涉色。,图48 一轴晶平行光轴切面的干涉图,2、成因,平行光轴切面的波向图中（图49），当光轴与上、下偏光镜振动方向之一平行时，大部分的光率体椭圆半径都与上、下偏光镜的振动方向平行或近于平行。在正交偏光镜间，应当消光或近于消光，故形成粗大模糊的黑十字，稍微转动物台，则大部分光率体椭圆半径与上、下偏光镜的振动方向斜交，故黑十字迅速分裂退出视域，而使视域变亮，出现干涉色。,图49 一轴晶平行光轴切面的波向图,当光轴与上、下偏光镜振动方向成45,0,时，为什么会出现对称的干涉色色带，而且沿光轴方向的干涉色较低，垂直光轴方向的两个象限内干涉色由中心向两边升高？从图50可看出：沿光轴的方向上，由中心向两边的各点上，其短半径No的长短不变，长半径Ne逐渐变短，因此，由中心向两边双折射率逐渐变小虽然光波倾斜经过晶体薄片的距离愈外愈长（经过的路程加大），,图50 一轴晶平行光轴切面干涉图中,双折射率大小变化示意图,但因晶体薄片的厚度不大，视域的范围又较小，在此范围内不足以抵消双折射率减小所引起的光程差减小，所以在此方向上，由中心向两边干涉色逐渐变低。在垂直光轴的方向上，由中心向两边的各点上，其光率体椭圆半径相等，均为Ne和No，双折射率值相等，但由于光波通过薄片的距离愈外愈长。故光程差愈外愈大，因而干涉色由中心向两边逐渐升高。,图50 一轴晶平行光轴切面干涉图中,双折射率大小变化示意图,3、平行光轴切面干涉图的应用,当轴性已知时，,可以确定切面方向,。平行光轴切面的干涉图，一般不作为测定光性符号，但当轴性已知时，也可以用来测光性的正负。测定时转动物台，黑十字逸出的方向或色序较低的两象限的方向，即为光轴方向。使光轴与上、下偏光镜振动方向成45,0,时，插入试板观察视域中心干涉色升降变化，测定光轴方向（即Ne）是Ng或Np，即可确定其光性正负（图51）。,图51 一轴晶平行光轴切面干涉图中光性符号的测定,第二节 二轴晶干涉图,二轴晶干涉图比一轴晶干涉图复杂，按切面方向不同具有五种干涉图，即垂直Bxa切面、垂直一个光轴切面、斜交光轴切面、垂直Bxo切面，以及平行光轴面（Ap）切面的干涉图。,一、垂直锐角等分线（Bxa）切面的干涉图,1、图象特点,当光轴面的迹线与上、下偏光镜振动方向之一平行时，干涉图由一个黑十字与“”字形的干涉色色圈组成（图52）。黑十字的两个黑臂分别平行上、下偏光镜的振动方向，其粗细不等，沿光轴面迹线方向的黑臂较细，在两个光轴出露点处更细；垂直光轴面方向（即Nm方向）的黑臂较粗；黑十字交点为Bxa出露点，位于视域中心（即目镜十字丝交点）。,图52 二轴晶Bxa切面的干涉图,图52 二轴晶Bxa切面的干涉图,干涉色色圈以两个光轴出露点为中心向两边干涉色级序逐渐升高，在靠近光轴处干涉色色圈呈卵形曲线，向外合并成“”字，更外成凹形椭圆。干涉色色圈的多少，取决于晶体的双折射率及晶体薄片的厚度。双折射率愈大，切片愈厚，干涉色色圈愈多；双折射率愈小，切片愈薄，干涉色色圈愈少，对于双折射率较低的晶体，视域中除黑十字外，干涉图中无“”字形干涉色色圈，在黑十字所分刈的四个象限内仅出现一级灰干涉色。,转动物台黑十字从中心分裂形成两个弯曲的黑臂，当光轴面方向与上、下偏光镜振动方向的夹角为45,0,时，（即物台转动45,0,），两个黑臂顶点间的距离最远（图52B、E），两弯曲黑臂顶点为两个光轴出露点，它们之间的距离与光轴角（2V）成正比；弯曲顶点凸向Bxa出露点。弯曲黑臂顶点的连线，代表光轴面（Ap）与薄片平面的交线。继续转动物台，弯曲黑臂顶点逐渐向视域中心移动至90,0,时，又合成黑十字，但粗细黑臂的位置已更换。在转动物台时，干涉色色圈随光轴出露点移动，其形状不发生变化。,图52 二轴晶Bxa切面的干涉图,2、成因,二轴晶干涉图的成因可用波向图解释。二轴晶的波向图可应用拜阿特-弗伦涅尔定律作出。也可用星射球面投影方法作出。,拜阿特-弗伦涅尔定律：沿任意方向射入二轴晶矿物的光波，其波法线与两个光轴构成相交的两个平面，其夹角的两个平分面迹线方向，就是垂直该光波的光率体椭圆切面长短半径方向（即该光波分解形成两种偏光的振动方向）。,黑十字及弯曲黑带的成因 垂直Bxa切面的波向图中（图53），,图53 垂直Bxa切面的波向图,当光轴面（Ap）迹线方向与上、下偏光镜振动方向（AA、PP）之一平行时（图54A）。在光轴面迹方向及Nm方向上，光率体椭圆半径与PP、AA平行或近于平行；在正交偏光镜间消光或近于消光，构成黑十字。在Nm方向上，光率体椭圆半径与PP、AA平行或近于平行的范围较宽，故其黑带较宽；在光轴面迹方向上，光率体椭圆半径与PP、AA平行或近于平行的范围窄，在光轴出露点处更窄，故光轴面迹线方向的黑带较窄，光轴出露处更窄。,图54 二轴晶Bxa切面干涉图中的黑十字（A）及弯曲黑臂的成因,转动物台，波向图中心部分的光率体椭圆半径首先与PP、AA斜交而变亮，所以黑十字从中心分裂。当光轴面与PP、AA成45,0,夹角时（图54B），只有两个弯曲黑带范围内的光率体椭圆半径与PP、AA平行或近于平行，在正交偏光镜间消光或近于消光，构成对称的两个弯曲黑带。,干涉色圈的成因 在黑十字或弯曲黑带范围以外，光率体椭圆半径与PP、AA斜交（图54），在正交偏光镜间发生干涉作用，如为白光光源，形成干涉色。,图54 二轴晶Bxa切面干涉图中的黑十字（A）及弯曲黑臂的成因,为什么构成“”干涉色圈，而且干涉色级序愈外愈高？这是因为二轴晶晶体有两个光轴。在垂直Bxa的晶片中，Bxa方向垂直晶片平面，两个光轴方向是倾斜的（图55）。光波沿两个光轴方向射入时，不发生双折射，其光程差等于零。斜交光轴射入的光波，发生双折射，其光程差从光轴出露点的零起，向外逐渐增加，因而相应的干涉色以两个光轴出露点为中心，向外干涉色级序逐渐升高，愈外干涉色级序愈高。光轴出露点的两侧，光程差增加的速度不相等。,图55 垂直Bxa切面干涉图中的干涉色圈成因示意图,在光轴与Bxa之间（图55），斜交光轴的入射光波，随着入射光与光轴斜交角度的加大，其双折射率和光波在晶片中经历的距离（即晶片厚度）都是逐渐增加，故其光程增加速度较快。在光轴的另一侧，即光轴与Bxa之间，斜交角度的入射光波，随着入射光波与光轴斜交角度的加大，虽其双折射率逐渐加大，但光波通过晶片的距离（即晶片厚度）逐渐减小，故其光程差增加速度较慢，而且到达Bxa 出露点达最大值不再增加。,图55 垂直Bxa切面干涉图中的干涉色圈成因示意图,所以在光轴出露点的两侧，光程差相等点与光轴出露点间的距离不相等，在Bxa出露点一侧的距离较长（因其光程差增加速度较慢）；在Bxo出露点一侧的距离较短（因其光程差增加速度较快）。因此，在两个光轴出露点的周围，光程差相等，干涉色相同的点，构成两个卵形。在Bxa出露点，光程差不再增加，干涉色级序不再升高。故其干涉色圈相连而构成“”字形。,图55 垂直Bxa切面干涉图中的干涉色圈成因示意图,3、光性正负测定,二轴晶的光性正负是以Bxa=Ng，Bxo=Np时为正光性，Bxa=Np，Bxo=Ng为负光性。因此，测定二轴晶的光性正负实际上就是测定Bxa是Ng，还是Np。在垂直Bxa切面的干涉图中，当光轴面与上、下偏光镜振动方向成45,0,夹角时，视域中心为Bxa出露点，二弯曲黑臂顶点为两个光轴出露点。,图56 二轴晶Bxa切面干涉图中，光轴面迹线上光率体椭圆长短半径的分布方位,两个光轴与Bxa出露点的连线为光轴面与薄片平面相交的迹线，垂直光轴面迹线的方向为Nm方向。弯曲黑臂顶点内外的光率体椭圆半径的分布方位，因光性正负而不同（图56）。,图56 二轴晶Bxa切面干涉图中，光轴面迹线上光率体椭圆长短半径的分布方位,从图56中可知，与光轴面迹线一致的光率体椭圆半径的名称，在二轴晶出露点内外恰恰相反，但无论光性是正或是负，双曲线（即黑臂）总是凸向Bxa（锐角区），凹向Bxo（钝角区）。同时无论在锐角区或钝角区，干涉色级序的变化便能确定光性正负。,图56 二轴晶Bxa切面干涉图中，光轴面迹线上光率体椭圆长短半径的分布方位,例如，加入试板弯曲黑臂变为红臂，如果锐角区干涉色由灰变蓝，干涉色升高，说明Nm方向与试板慢光平行，垂直Nm振动的应当为快光Np，则锐角等分线就是Ng，因此该二轴晶是正光性。如果锐角区干涉色由灰变黄，干涉色降低，说明Nm方向为快光，与之垂直振动的应为慢光Ng，则锐角等分线为Np，因此该二轴晶为负光性（图57）。,图57 垂直Bxa切面干涉图中，弯曲黑臂范围以外仅是一级灰，加入石膏试板后的变化,钝角区与锐角区干涉色的升降正相反，分析钝角区干涉色的变化情况也能得出与上述相同的结论。若钝角区由灰变黄干涉色降低，说明Nm为快光，与Nm垂直振动的光为慢光Ng，则钝角等分线为Np，所以仍为二轴晶正光性。若钝角区由灰变蓝，干涉色升高，说明Nm为慢光，与Nm 垂直的振动为快光Np，则钝角等分线为Ng，也为二轴晶负光性。,图57 垂直Bxa切面干涉图中，弯曲黑臂范围以外仅是一级灰，加入石膏试板后的变化,干涉色色圈多的干涉图（图58），加入云母或石英楔试板后，观察黑臂的凸向（锐角区）和凹向（钝角区）干涉色的升降确定光性正负，原理同上。,图58 垂直Bxa切面干涉图中，干涉色色圈较多，加入云母试板后的变化,二、垂直一个光轴（OA）切面的干涉图,1、图象特点,二轴晶垂直一个光轴切面干涉图，在形象上相当于Bxa切面的干涉图的一半（图59）。其光轴出露点在视域中心，当光轴面迹线与上、下偏光镜振动方向之一平行时，出现一个直的黑臂及卵形干涉色色圈。转动物台黑臂弯曲，当光轴面与上、下偏光镜振动方向成45,0,夹角时，黑臂弯曲度最大，此时弯曲黑臂顶点即为光轴出露点，位于视域中心，弯曲黑臂凸向Bxa的出露点。,图59 二轴晶垂直一个光轴切面的干涉图,图59 二轴晶垂直一个光轴切面的干涉图,继续转动物台，弯曲黑臂逐渐变直，至90,0,时又成为一个直的黑臂，但方向已改变。再继续转动物台，黑臂再次弯曲，至135,0,时弯曲度最大，但凸出方向已改变。值得注意，垂直一个光轴切面的干涉图，当光轴与上、下偏光镜振动方向成45,0,夹角时，弯曲黑臂顶点一定是位于视域中心（目镜十字丝交点），否则就不是垂直光轴的切面。因为垂直一个光轴切面的干涉图是垂直Bxa干涉图的一部分，所以成因也与垂直Bxa干涉图相同。,2、光性正负的测定,测定光性时，转动物台使光轴面迹线与上、下偏光镜振动方向的夹角成45,0,，根据弯曲黑臂顶点凸向Bxa，找出Bxa的出露点及另一弯曲黑臂在视域外的位置，即可按照垂直Bxa切面测定光性正负的方法进行测定（图60及图61）。,图60 垂直一个光轴切面干涉图，黑臂以外仅见一级灰干涉色，加入石膏试板后的变化,图61 垂直一个光轴切面干涉图，干涉色色圈较多，加入云母试板后的变化,三、斜交光轴切面的干涉图,二轴晶斜交光轴切面的干涉图是二轴晶晶体薄片中最常见一种干涉图，了解其特征及变化规律对于确定二轴晶晶体的光性符号很重要。不垂直Bxa，也不垂直光轴的切面，若斜交角度不太大，其干涉图与前两者颇类似，仅在视域中稍有偏斜，如图62。,图62 二轴晶斜交Bxa切面（上）和斜交光轴切面（下）的干涉图,其成因及用于光性正负的测定同垂直Bxa和垂直一个光轴切面方法相同。除上述两图象外，斜交光轴切面的干涉图还可分为以下两种类型：一种垂直光轴面（图63），斜交光轴切面的干涉图；另一种是光轴面与光轴都斜交的切面（图64）。,图63 二轴晶垂直光轴面的斜交光轴切面干涉图,图64 二轴晶斜交光轴面和光轴切面的干涉图,另一种是光轴面与光轴都斜交的切面（图64）。,四、垂直钝角等分线（Bxo）切面的干涉图,与Bxa干涉图类似，当光轴面与上、下偏光镜振动方向一平行时，干涉图为一个较粗大模糊的黑十字，相当于Bxa干涉图的中心附近部分黑十字四个象限仅出现一级灰干涉色，如果双折射率很高时，可出现较稀疏的干涉色色图（图65）。,图65 二轴晶垂直Bxo切面的干涉图,转动物台黑十字迅速分裂成双曲线形的黑臂，并沿光轴面方向逸出视域，当光轴面与AA、PP成45,0,夹角时，弯曲黑臂的两个顶点之间的距离远，并都位于视域之外。继续转动物台，弯曲黑臂逐渐靠近，至90,0,时，又出现一个粗大模糊的黑十字，再转动物台黑十字又分裂。转动物台，根据黑臂退出视域的规律判别光轴面方位，当光轴面与AA、PP成45,0,夹角时，视域最明亮，视域中心为Bxo出露点，即Bxo（或Bxa）是Ng，或是Np即可定出晶体的光性符号。,图65 二轴晶垂直Bxo切面的干涉图,五、平行光轴面切面的干涉图,此种切面在正交偏光镜间具有最高干涉色，其干涉图与一轴晶平行光轴切面的干涉图相似。当Bxa、Bxo方向分别与AA、PP平行时，为粗大模糊的黑十字，几乎占据整个视域，转动物台黑十字分裂，并迅速沿锐角等分线的方向退出视域（一般在10,0,以内）故也称瞬变干涉图或闪图（图66）。,图66 平行光轴面切面的干涉图,当Bxa、Bxo方向与AA、PP成45,0,夹角时，视域最亮；如果晶体的双折射率较大时，可出现干涉色色带，在Bxa方向的两个象限中，干涉色较低，在Bxo方向的两个象限中，干涉色稍高。,图66 平行光轴面切面的干涉图,这种切面的干涉图只能确定切面方向，一般不用作测定光性符号，但当轴性已知，也可测定光性符号。当视域最亮时，根据干涉色级序较低的二象限连线方向为Bxa方向，找出Bxa方向在切面上的方向后，插入试板，根据整个视域内干涉色级序的升降变化，确定Bxa是Ng，还是Np，即确定了光性符号。,图66 平行光轴面切面的干涉图,上述五种类型切面，其中垂直一个光轴切面和平行光轴面的二种类型，在正交偏光镜下可找出，前者为全黑，后者为干涉色最高，其他三种在正交偏光镜下不易区别。而,垂直一个光轴切面意义最大,，不但能作为测定光性正负的可靠依据，还可用于光轴角的测定。,六、光轴角的测定,光轴角是晶体一个重要常数，也是鉴定或区分某些晶体的重要特征。确定二轴晶晶体光轴角大小的方法有两种，即目估法和实测法。,图67 二轴晶光轴角的目估法,目估法是利用垂直一个光轴的干涉图，使光轴面方向与AA、PP成45,0,夹角时，黑臂的弯曲与光轴角大小成反比，光轴角愈大，弯曲度愈小。当2V=90,0,时，黑臂成一直线；2V=0,0,时，黑臂成直角；其它介于二者之间（图67）。此法简便，但不很准确，在一般性鉴定中较常用。,实验七 锥光镜下的观察（一）,一、实验目的要求,：,掌握锥光装置，一轴晶干涉图的特点及光性正负的判别。,二、实验薄片：,薄片：石英光轴（晶光6）、方解石光轴（晶光8）、石英斜交光轴（晶光7）、石英光轴（晶光9），云母试板和石膏试板。,三、实验指导,锥光镜的装置,在正交偏光镜（AAPP）的基础上，加上聚光镜，换用高倍物镜（40），推入勃氏镜或去掉目镜便成了锥光镜的装置。,图36 透过聚光镜后的锥形偏光,A-立体图；B-剖面图,四、实验步骤,：,1、安装并调整好锥光镜装置。,2、观察石英垂直光轴切面的（或稍微斜交光轴）干涉图（薄片）。,注意观察正交偏光下的干涉色，锥光下0,0,位置的消光影及色圈的特点以及物台转动360,0,时消光影（黑十字）有无变化，确定象限，插入石膏或云母试板，观察第一、三象限和第二、四象限干涉色的升降，根据补色法则，确定Ne和No的关系，若NeNo 为正光性：若NeNo为负光性。,3、观察方解石垂直光轴（或稍微斜交光轴）切面的干涉图特点，测定光性正负。,4、观察一轴晶斜交光轴切面（光轴出露点在视域之外）的干涉图（薄片）：,注意观察正交偏光镜下的干涉色，锥光镜下0,0,、90,0,、180,0,、270,0,及45,0,、135,0,等位置的特点。转动物台时消光影（黑臂）的移动规律，特别注意正确确定象限判别正负光性。,5、观察石英平行光轴切面的干涉图：,注意消光影（黑十字）的大小，清晰程度，注意观察当物台转动一个小的角度时，黑十字的变化和移动方向，体会闪图的特点，注意观察45,0,位时干涉色的分布特点，学会如何判断光轴的方向，确定光性正负。,五、注意事项,1、在锥光实验前应进行高倍物镜的中心校正。特别注意在用高倍物镜准焦时，应先把镜筒下降到（肉眼从侧面看）物镜快与薄片相碰的位置，然后眼睛从目镜上看，再缓慢提升镜微直至矿物看清时为止。,2、观察一轴晶斜交光轴切面干涉图判断光轴出露点时，应综合应用黑臂粗细方向、色环凹向和黑臂移动情况，才能做出准确判断。,3、利用平行光轴切面干涉图判断光性正负时，应注意判断光轴的方向，插入试板后观察整个视域干涉色的升降变化。,六、实验报告：,一轴晶干涉图的观察及测定,干涉图的类型,正交偏光干涉色,锥光镜下干涉图的特点,光性正负,本切面光率体轴名,0,0,位时,45,0,位时,转动物台时的变化,45,0,位插入试板,垂直,光轴,斜交光轴,平行光轴,实验八 锥光镜下的观察（二）,一、实验目的要求,：,认识二轴晶主要切面（垂直一个光轴，Bxa、光轴面）的干涉图测定光性正负，估计光轴角2V。,二、实验设备,：,薄片：重晶石光轴（晶光11）、白云母Bxa（晶光12）、石膏光轴面（晶光10），云母试板和石膏试板。,三、实验指导,二轴晶干涉图比一轴晶干涉图复杂，按切面方向不同具有五种干涉图，即垂直Bxa切面、垂直一个光轴切面、斜交光轴切面、垂直Bxo切面，以及平行光轴面（Ap）切面的干涉图。,四、实验步骤：,1、观察重晶石垂直一个光轴切片的干涉图：,注意观察正交偏光下的干涉色。锥光下0,0,位。45,0,位的干涉图的形态以及转动物台360,0,时的变化。确定象限判断光性正负。,2、观察白云母Bxa的干涉图：,注意观察正交偏光下的干涉色。锥光下0,0,位。45,0,位时干涉图的特点以及转动物台360,0,时的变化规律。确定象限判断光性正负。,3、观察石膏光轴面的干涉图：,注意观察正交偏光下的干涉色。锥光下0,0,位、45,0,位时干涉图的特点以及转动物台360,0,时的变化规律，体会闪图的特点，测定光性正负。,五、注意事项,1、观察二轴晶垂直一个光轴干涉图时，应注意与一轴晶斜交光轴（光轴出露点在视域之外）干涉图的区别。,2、利用云母试板判断光性正负时，注意消光影在位置，该处是异名半径平行相互抵消的地方。,3、观察平行光轴面的干涉图时，注意判断Bxa和Bxo的方向，测定光性正负。,六、实验报告,：,二轴晶干涉图的观察及测定,干涉图,的,类型,正交,偏光,干涉,色,锥光镜下干涉图的特点,光性正,负的测定,2V,本切面,光率体,轴名,0,0,位,45,0,位,转动物,台时的,变化,重晶石,垂直一,个光轴,白云母,Bxa,石膏光轴面,