JJF (浙) 1131-2016 小测头千分尺校准规范.pdf
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1、 (浙) 浙浙 江江 省省 地地 方方 计计 量量 技技 术术 规规 范范 JJJJF F(浙)(浙)111131312012016 6 小测头千分尺校准规范小测头千分尺校准规范 Calibration Specification for SmallSmall anvilanvil micrometermicrometer 2012016 6- -0 03 3- -1 16 6 发布发布 2012016 6- -0 04 4- -2020 实施实施 浙浙 江江 省省 质质 量量 技技 术术 监监 督督 局局 发发 布布 JJF(浙)1131-2016 小测头千分尺校准规范 Calibratio
2、n Specification for Small anvil 归 口 单 位:浙江省质量技术监督局 主要起草单位:浙江省计量科学研究院 萧山区质量计量监测中心 浙江省方正校准有限公司 绍兴市质量技术监督检测院 参加起草单位:萧山区质量计量监测中心 本规范技术条文由起草单位负责解释 JJF(浙)1131-2016 JJF(浙)1131-2016 主要起草人: 黄伟城(浙江省计量科学研究院) 陆 益(浙江省计量科学研究院) 吴国伟(萧山区质量计量监测中心) 汪正亚(浙江省方正校准有限公司 徐 隽(浙江省计量科学研究院) 李 霞 (绍兴市质量技术监督检测院) 参加起草人: 吕超群(萧山区质量计量监
3、测中心) JJF(浙)1131-2016 I 目 录 引言 () 1 范围(1) 2 引用文献(1) 3 术语和计量单位 (1) 3.1 示值变动性(1) 4 概述(1) 5 计量特性(2) 5.1 测微螺杆的轴向窜动和径向摆动 (2) 5.2 测砧与测微螺杆测量面的偏移量 (2) 5.3 测力(2) 5.4 刻线宽度及宽度差(2) 5.5 微分筒锥面的端面至固定套筒刻线面的距离(2) 5.6 微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置 (2) 5.7 测量面的平面度(3) 5.8 示值变动性 (3) 5.9 漂移 (3) 5.10 两测量面的平行度(3) 5.11 示值误差(3) 5.12
4、 细分误差(3) 5.13 小测头千分尺校对用量杆尺寸和尺寸变动量(3) 6 校准条件 (4) 6.1 环境条件(4) 6.2 校准项目和校准设备(4) 7 校准方法(5) 7.1 测微螺杆的轴向窜动和径向摆动(5) 7.2 测砧与测微螺杆测量面的偏移量(6) 7.3 测力(7) JJF(浙)1131-2016 II 7.4 刻线宽度及宽度差(7) 7.5 微分筒锥面的端面至固定套筒刻线面的距离(7) 7.6 微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置(7) 7.7 测量面的平面度(7) 7.8 示值变动性(7) 7.9 漂移(8) 7.10 两测量面的平行度(8) 7.11 示值误差(8)
5、 7.12 细分误差(9) 7.13 校对用量杆尺寸和尺寸变动量 (9) 8 校准结果表达 (9) 9 复校时间间隔 (9) 附录 A 小测头千分尺示值误差测量结果不确定度评定(10) 附录 B 校准证书或校准报告内容(14) JJF(浙)1131-2016 III 引 言 JJF1071-2010国家计量校准规范编写规则 、JJF1001-2011通用计量术语及定义 、 JJF1059.1-2012 测量不确定度评定与表示 、 JB/T10005-2012 小测头千分尺共同构成小测头千分尺的计量技术法规。 本技术规范首次发布。 JJF(浙)1131-2016 1 小测头千分尺校准规范 1 范
6、围 本规范适用于分度值/分辨力为 0.001mm、0.01mm,测量上限至 100mm 的小测头千分尺的校准。 2 引用文献 JJF1001-2011 通用计量术语及定义 JJF1059.1-2012 测量不确定度评定与表示 JB/T 10005-2012 小测头千分尺 凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用本规范。 3 术语和计量单位 3.1 示值变动性 在一组重复性测量条件下进行多次测量示值的最大值与最小值之差。 4 概述 小测头千分尺是应用螺旋副结构,将回转运动变为直线运动的计量器具,其测微螺杆和固定测砧为小测头形式,
7、测量杆直径有 2mm 和 3mm 两种。主要用于测量各种工件的外尺寸。它由尺架、固定测砧、测微螺杆、测力装置、锁紧装置和读数装置等组成。其外形结构如图 1、图 2 所示。 图 1 小测头千分尺 1尺架 2固定测砧 3测微螺杆 4锁紧装置 5固定套筒 6微分筒 7测力装置 8护板装置 JJF(浙)1131-2016 2 图 2 数显小测头千分尺 1 尺架 2固定测砧 3测微螺杆 4微分筒 5测力装置 6显示屏 7护板装置 5 计量特性 5.1 测微螺杆的轴向窜动和径向摆动 测微螺杆的轴向窜动和径向摆动应不大于 0.01mm。 5.2 测砧与测微螺杆测量面的偏移量 测砧与测微螺杆测量面的偏移量应不
8、超过表 1 的规定。 表 1 测砧与测微螺杆测量面的偏移量 测量范围上限/ mm 偏移量/ mm 25 0.05 50 0.08 75 0.13 100 0.15 5.3 测力 小测头千分尺的测力系指测微螺杆测量面与量具测力仪平面接触时所作用的力为(36)N。 5.4 刻线宽度及宽度差 微分筒刻线宽度为(0.080.20)mm,固定套筒上的刻线与微分筒上的刻线的宽度差不大于 0.03mm。 5.5 微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离 微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离不大于 0.4mm。 5.6 微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置 JJF(浙)1131-2016 3
9、当测量下限调整正确后,微分筒上的零刻线与固定套筒纵刻线对准时,微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线右边缘应相切, 若不相切, 压线不大于0.05mm,离线不大于 0.1mm。 5.7 测量面的平面度 小测头千分尺测量面的平面度不大于 0.6 m。 5.8 示值变动性 数显小测头千分尺的示值变动性不大于 1 m。 5.9 漂移 数显小测头千分尺任意位置时数值漂移不大于 1 m/h。 5.10 两测量面的平行度 小测头千分尺锁紧装置紧固和松开时, 小测头千分尺两测量面的平行度不超过表 2 的规定。 5.11 示值误差 小测千分尺示值误差不超过表 2 的规定。 表 2 示值误差 测量范围/mm 两测量
10、面的平行度/ m 最大允许误差/ m 025,2550 2 4 5075,75100 3 5 5.12 细分误差 数显小测头千分尺数显装置的细分误差不超过2 m。 5.13 校对用量杆尺寸和尺寸变动量 小测头千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量不超过表 3 的规定。 表 3 校对用量杆尺寸和尺寸变动量 校对量杆标称尺寸/mm 尺寸偏差的最大允许误差/ m 变动量/ m 25,50 2 1 75 3 1.5 注:以上指标不用于合格性判断,仅供参考。 JJF(浙)1131-2016 4 6 校准条件 6.1 环境条件 校准小测头千分尺和校对用的量杆的室内温度和室内平衡温度的时间应在表 4 的范围内。
11、室内相对湿度不大于 70RH。 表 4 室内温度和室内平衡温度 测量范围/mm 室内温度对 20的允许偏差/ 平衡温度的时间/h 小测头千分尺 校对用的量杆 (0100) 5 3 2 6.2 校准项目和校准设备 小测头千分尺校准项目和校准设备见表 5。 表 5 校准项目和校准设备 序号 校准项目 主要校准设备 1 测微螺杆的轴向窜动和径向摆动 杠杆千分表 2 测砧与测微螺杆测量面的偏移量 1 级检验平板、杠杆百分表或百分表 3 测力 量具测力仪 MPE:1.0 4 刻线宽度及宽度差 工具显微镜 MPE:(1+L/100) m 读数显微镜 MPEV:0.01mm 5 微分筒锥面的端面棱边至固定套
12、筒刻线面的距离 工具显微镜或读数显微镜、塞尺 6 微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置 - 7 测量面的平面度 2 级平面平晶 8 示值变动性 5 等或 3 级量块 9 漂移 - 10 两测量面的平行度 平行平晶 MPEV: (0.61.0) m 11 示值误差 5 等或 3 级量块 12 细分误差 微分筒及 5 等或 3 级量块 13 校对用量杆尺寸和尺寸变动量 光学计、测长机、4 等或 2 级量块 JJF(浙)1131-2016 5 7 校准方法 首先检查外观,确定没有影响计量特性因素后再进行校准。 7.1 测微螺杆的轴向窜动和径向摆动 一般情况下用手感检查测微螺杆的轴向窜动和径向
13、摆动。有异议时,可按下列方法校准。 7.1.1 测微螺杆的轴向窜动,用杠杆千分表校准。校准时,杠杆千分表与测微螺杆测量面接触,沿测微螺杆轴向方向分别往返加力(35)N,如图 3 所示。杠杆千分表示值的变化,即为轴向窜动量。 7.1.2 测微螺杆的径向摆动,用杠杆千分表校准。校准时,将测微螺杆伸出尺架 10mm 后,使杠杆千分表接触测微螺杆的端部,再沿杠杆千分表测量方向加力(23)N,然后在相反方向加同样大小的力,此时杠杆千分表示值的变化即为径向摆动量。径向摆动的校准应在测微螺杆相互垂直的两个方向进行。此过程如图 4 所示。 图 3 轴向加力示意图 JJF(浙)1131-2016 6 图 4 径
14、向加力示意图 7.2 测砧与测微螺杆测量面的偏移量 (025)mm 的小测头千分尺可目力观察小测头千分尺测砧与测微螺杆测量面的偏移量,测量上限大于 25mm 的小测头千分尺可借助校对用量杆进行校准。如有异议时,可按下列方法进行校准。 测量上限大于 25mm 的小测头千分尺可用专用检具校准偏移量。 在检验平板上用杠杆百分表校准,校准时借助夹具放置在检验平板上,如图 5所示,调整夹具使小测头千分尺的测微螺杆与检验平板工作面平行,然后用杠杆百分表校准测砧与测微螺杆在这一方位上的偏移量x, 然后将尺架侧转 90,按上述方法校准测砧与测微螺杆在另一方位上偏移量y, 测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量按下式
15、求得: =22yx 此项校准也可用其他专用检具校准。 JJF(浙)1131-2016 7 图 5 在检验平板上用杠杆百分表校准示意图 7.3 测力 用分度值/分辨力不大于 0.1N 的量具测力仪校准。校准时,使测微螺杆测量面与量具测力仪的平面工作面接触后进行。 7.4 刻线宽度及宽度差 在工具显微镜上校准。微分筒或刻线盘上的刻线宽度至少任意抽检 3 条刻线。此项校准也可采用满足不确定度要求的其他方法。 7.5 微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离 在工具显微镜上校准,也可用 0.4mm 塞尺置于固定套筒刻线表面上用比较法校准。校准应在微分筒转动一周内不小于 3 个位置上进行。 7.6 微
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