元器件检验通用标准.doc

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来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-001
受控状态：
碳膜电阻
修 改 页：
第 1 页 共 53 页
抽样检验标准：
依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.65
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
外观
色环标识
色环标识与电阻标称值精度等级是否一一致.
用毛刷沾洗板水轻擦色环，不能出现脱色现象。
MI
目测
元件体
电阻有无破损，引脚是否氧化。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图；符合实际装配。
MA
钢尺或游标卡尺
3

电性
1. 用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内,电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz. 电阻值大于等于10K的用并联方式，频率选用100Hz。
2. 分别在高温85℃、低温-20℃、温度93%±3%、100CM高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值以及偏差允许范围。
3. 碳膜电阻误差值：±5%
MA
LCR电桥
4
可焊性
用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中一次上锡面积大于85%。表面色环的
颜色不发生变化。
MA
烙铁
小锡炉
5
材料
1. 所用材料与样品相符。
2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
3. 外壳用刀片刮取，壳体坚韧度需符合。
MA
目测、对比样品
刀片
6
包装标识
1、 包装材料用料正确。
2、小包装方式、数量无误。
3、 装箱方式、数量无误。
4、（内包装、外箱）标识单内容正确。
MA
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-002
受控状态：
金属膜电阻类
修 改 页：
第 2 页 共 53 页
抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.65
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
外观
色环标识
色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。
MI
目测
元件体
电阻有无破损，引脚是否氧化。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
1． 室温下用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内，电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz；电阻值大于等于10K的用并联方式，频率选用100Hz。
2． 分别在75℃、-5℃以下、湿度93％±3％、100CM高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值及偏差允许范围。
MA
LCR电桥
4
3.金属膜、精密电阻阻值偏差不得超出标称值的上下限。
4. 金属膜电阻误差值±1％
CR
5
可焊性
用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MA
烙铁
小锡炉
6
材料
1、 所用材料与样品相符。
2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
7
包装标识
1、 包装材料用料正确。
2、 小包装方式、数量无误。
3、 装箱方式、数量无误。
4、 （内包装、外箱）标识单内容正确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-003
受控状态：
氧化膜电阻
修 改 页：
第 3 页 共 53 页
抽样来料检验标准：
依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.0；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。
MI
目测
元件体
电阻有无破损，引脚是否氧化。
MI
目测
2
尺寸
外形尺寸是否符合产品工程图。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
1. 用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内，电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz；
2. 分别在75℃、-5℃、湿度93％±3％、100CM
高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值及偏差允许范围
CR
LCR电桥
4
材料
所用材料与样品相符
MA
目测、对比样品
5
包装标识
1. 包装材料用料正确。
2. 小包装方式、数量无误。
3. 装箱方式、数量无误。
4. （内包装、外箱）标识单内容正确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验通用标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-004
受控状态：
AI机用的电阻、二极管引脚标准要求
修 改 页：
第 4 页 共 53 页
抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.65
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
碳膜电阻、金膜电阻、二极管1N4148、二极管1N4007引脚直径
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
电阻
引脚
1．1/4W碳膜、金膜电阻引脚直径要求必需达0.43-0.5mm
2.1/4W电阻要求带编带（26mm），编带中间电阻引脚的两端
尺寸为26mm，也有52mm。
3．电阻引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象。
CR
数字卡尺
目测
2
二极管
1N4148
引脚
1、二极管1N4148引脚直径为0.45-0.5mm。
2．二极管1N4148要求带编带（26mm），编带中间二极管1N4148引脚的两端尺寸为26mm。
3．二极管1N4148引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象
CR
数字卡尺
目测
3
二极管
1N4007
引脚
1．二极管1N4007引脚直径为0.68-0.73mm。
2．二极管1N4007要求带编带（58mm），编带中间二极管1N4007引脚的两端尺寸为58mm。
3．二极管1N4007引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象
CR
数字卡尺
目测
4
可焊性
用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MI
烙铁
小锡炉
5
材料
1. 所用材料与样品相符。
2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装
标识
1. 包装材料用料正确。 3.装箱方式、数量无误。
2. 小包装方式、数量无误。4.内包装、外箱标识单内容正确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期
、

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-005
受控状态：
瓷片电容
修 改 页：
第 5 页 共 53 页
抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.65
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
电容：104P/50V+80%-20% 102P/50V+80%-20%(直径φ5脚距5mm)
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
丝印是否清晰可辩，标识是否与来料相符。
MI
目测
元件体
引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损、划伤、裂痕等。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图。脚距5mm，φ6mm，符合实际装配。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
1．使用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范围内，漏电流检测仪检测其额定耐压与漏电流的大小。
2．常温下用数字电容测试仪检测电容值为0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%），损耗角≤0.05。
3．常温下，用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻≥10000MΩ
4．常温下，用耐压测试仪测端子间耐压值75V；端子与外壳间耐压值为100V，应元击穿或飞弧现象（高温区95℃-105℃检测方法相同）。
5．将其放于95℃～105℃及低温-18℃以下，使用数字电容测试仪检测测其电容值为0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%）.
6. 手工浸水湿度93%±3%用数字电容测试仪测其电容0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%）.
CR
数字电容测试仪
漏电流测试仪
耐压测试仪
绝缘电阻测试仪

4
可焊性
用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MI
烙铁
小锡炉
5
材料
1、 所用材料与样品相符。
2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装标识
1.包装材料用料正确。
2.小包装方式、数量无误。
3.装箱方式、数量无误。
4.内包装、外箱标识单内容正确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-006
受控状态：
高压瓷片电容
修 改 页：
第 6 页 共 53 页
抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.65
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
电容： 101P/1KV(直径φ5脚距5mm) 102P/1KV(直径φ6.5脚距5mm) 103P/1KV(直径φ8.5脚距5mm)
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
丝印是否清晰可辩，标识是否与来料相符。
MI
目测
元件体
引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损、划伤、裂痕等。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
1．用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范围内，漏电流检测仪检测其额定耐压与漏电流的大小。
2．常温下用数字电容测试仪检测电容值为0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%），损耗角≤0.05。
3．常温下，用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻≥10000MΩ
4．常温下，用耐压测试仪测试端子间耐压值1.6Ur(5s)；端子与外壳间耐压值为1250V，应元击穿或飞弧现象（高温区95℃-105℃检测方法相同）。
5．将其放于95℃～105℃及低温-18℃以下，使用数字电容测试仪检测测其电容值为0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%）.
6.手工浸水湿度93%±3%用数字电容测试仪测其电容0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%）.
CR
数字电容测试仪
漏电流测试仪
耐压测试仪
绝缘电阻测试仪

4
可焊性
用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MI
烙铁
小锡炉
5
材料
1、 所用材料与样品相符。
2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装标识
1包装材料用料正确。
2.小包装方式、数量无误。
3.装箱方式、数量无误。
4.内包装、外箱标识单内容正确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-007
受控状态：
高压金属膜电容
修 改 页：
第 7 页 共 53 页
抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.4
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
高压电容（CBB金属膜电容） CBB21-473J400V(脚距10mm)
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
丝印是否清晰可辩，有明确认证标志，是否标明3C、UL、TÜV或VDE等认证标志。
MI
目测
元件体
引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损、划伤，封胶是否有气孔等。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图
MA
游标卡尺
3
电性
1.根据所测试安规电容的容量在电容测试仪设置标准容量，根据电容正负偏差设置上下偏差，然后依据电容的标称电压值，设定其损耗角正切值，最后夹上待测电容，“PASS”灯亮表示合格。
2.用电容测试仪测其电容0.047μF±5%，损耗角≤1.0%(20℃ 1KHZ).
3.用绝缘电阻测试仪测其R≥30000MΩ（20℃ 1min）
4.常温下100CM高度自由跌落3次，再测其电容值应为0.047μF±5%.
5.用耐压测试仪测其极与极的抗电强度2Ur(2S).
6.高温80℃及低温-20℃时，测其电容值为0.047μF±5%。
CR
耐压测试仪
电容测试仪
漏电流
测试仪
绝缘电阻测试仪
4
可焊性
使用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MI
烙铁
小锡炉
5
材料
1． 所用材料与样品相符。
2． 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装标识
1． 材料用料正确
2． 装箱方式、数量无误
3． （内包装、外箱）标识单内容正确
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-008
受控状态：
聚酯膜（绦纶）电容
修 改 页：
第 8 页 共 53 页
抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
聚脂膜电容（绦纶）： 2J103J（630V）(脚距4mm) 2J152J（630V）(脚距4mm)
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
丝印是否清晰可辩，负极标志、丝印标识是否与来料相符。
MI
目测
元件体
引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损、划伤。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图
MA
钢尺
游标卡尺
3
电性
1.根据所测电容器容量在电容测试仪设置标准容量，根据电容正负偏差设置上下偏差，然后根据电容的标称耐压来设定损耗角，最后夹上待测电容，“PASS”灯亮表示为合格。
2.用电容测试仪或LCR电桥测其电容0.0001μF±5％(0.00152μF±5％) ，损耗角正切值≤0.01（20℃ 1KHZ）。
3.用耐压测试仪测其极与极间的抗电强度2Ur（Ur=630VDC）时间5S
4.用绝缘电阻测试仪测其R≥30000MΩ（20℃ 1min）。
5.工作温度范围-40℃～＋85℃
CR
电容
测试仪
万用表
稳压电源
漏电流
测试仪
绝缘电阻测试仪
4
可焊性
用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MI
烙铁
小锡炉
5
材料
1、所用材料与样品相符。
2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、
对比样品
6
包装标识
1、材料用料正确。
2、小包装方式、数量无误。
3、装箱方式、数量无误。
4、（内包装、外箱）小标签内容正确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-009
受控状态：
二极管IN4007
修 改 页：
第 9 页 共 53 页
抽样来料检验标准：
依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
二极管：D1-D5 IN4007
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
负极标志及字符丝印是否清晰可辩。
MI
目测
元件体
元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图；符合实际装配。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
1. 用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降：0.6～1.1V和反向耐压：IN4007＞1000V、
2. IN4007在最大反向电压下其最大反向电流值为5.0μA（+25℃），平均输出电流值为1A（+75℃）
3. 工作温度范围为-65℃to+125℃
CR
晶体管测试仪
稳压电源
万用表
4
可焊性
用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MA
烙铁
小锡炉
5
材料
1. 所用材料与样品相符。
2. 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装标识
1、 包装材料用料正确。
2、小包装方式、数量无误。
3.装箱方式、数量无误。
4.（内包装、外箱）标识单内容正确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-009A
受控状态：
二极管IN4007
修 改 页：
第 9A 页 共 53 页
抽样来料检验标准：
依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
型号
稳压值及精度
测试电流
正向电压（VF）
IN4723
3.3V±5%
76mA
当IF=200mA时,VF≤1.2V
IN4732
4.3V±5%
53mA
当IF=200mA时,VF≤1.2V
IN4733
5.1V±5%
49mA
当IF=200mA时,VF≤1.2V
IN4734
5.6V±5%
45mA
当IF=200mA时,VF≤1.2V
IN4723
12V±5%
21mA
当IF=200mA时,VF≤1.2V
IN4723
27V±5%
9.5mA
当IF=200mA时,VF≤1.2V

稳压二极管参数:

二极管参数:
型号
最大反向电压(VR)
正向电压(VF)
正向电流（IF）
最大正向输出电流IAF
IN4001
≥50V
≤0.7V
5.0μA
1A
IN4002
≥100V
≤0.7V
5.0μA
1A
IN4007
≥1000V
≤0.7V
5.0μA
1A
IN4148
≥100V
≤0.7V
5.0μA
150mA
BAV99
≥75V
≤0.7V
1.0μA
215mA

拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-010
受控状态：
二极管IN4148
修 改 页：
第 10 页 共 53 页
抽样来料检验标准：
依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
二极管：D6-D7 IN4148
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
负极标志及字符丝印是否清晰可辩。
MI
目测
元件体
元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图；符合实际装配。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
1、 用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降：0.6～1.0V和反向耐压：IN4148＞100V、
2、 最大反向电流（+25℃）值为0.025μA，平均输出电流（+75℃）值为150mA
3、 工作温度范围为-65℃to+125℃
CR
晶体管测试仪
稳压电源
万用表
4
可焊性
用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MA
烙铁
小锡炉
5
材料
1、 所用材料与样品相符。
2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比
样品
6
包装标识
1、 包装材料用料正确。
2、 小包装方式、数量无误。
3、 装箱方式、数量无误。
4、 （内包装、外箱）标识单内容正确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-011
受控状态：
二极管(6A10)
修 改 页：
第 11 页 共 53 页
抽样来料检验标准：
依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
二极管：： 6A10
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
负极标志及字符丝印是否清晰可辩。
MI
目测
元件体
元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图；符合实际装配。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
4. 用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降：0.95V（MAX）和反向耐压：6A10＞1000V
5. 6A10在最大反向电压下其最大反向电流值为10μA（+25℃），平均输出电流值为1.0mA（+100℃）
6. 工作温度范围为-55℃to+150℃
CR
晶体管测试仪
稳压电源
万用表
4
可焊性
用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MA
烙铁
小锡炉
5
材料
1、 所用材料与样品相符。
2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装标识
1、 包装材料用料正确。
2、小包装方式、数量无误。
3. 装箱方式、数量无误。
4. （内包装、外箱）标识单内容正确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-012
受控状态：
快速恢复二极管FR107
修 改 页：
第 12 页 共53 页
抽样来料检验标准：
依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
二极管： FR107 DO-41
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
负极标志及字符丝印是否清晰可辩。
MI
目测
元件体
元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图。
MA
钢尺
游标卡尺
3
电性
1.用晶体管测试仪（10mADC）测试二极管正向压降VF≤0.7V，反向耐压：FR107≥1000V（工作温度范围-65℃～+150℃）.
2.用万用表先后测量二极管最大反向电流IRM=5.0μA(25℃)与平均输出电流IO=1A（75℃）
CR
晶体管
测试仪
稳压电源
万用表
4
可焊性
用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MA
烙铁
小锡炉
5
材料
１所用材料与样品相符。
２与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装标识
１包装材料用料正确。
２小包装方式、数量无误。
３装箱方式、数量无误。
４（内包装、外箱）标识单内容正确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-013
受控状态：
快速恢复二极管HER303
修 改 页：
第 13 页 共 53 页
抽样来料检验标准：
依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
二极管： HER303 DO-27
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
负极标志及字符丝印是否清晰可辩。
MI
目测
元件体
元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
1.用晶体管测试仪（10mADC）测试二极管正向压降VF≤0.7V，反向耐压：FR≥200V（工作温度范围-65℃～+150℃）.
2.用万用表先后测量二极管最大反向电流IRM=5.0μA(25℃)与平均输出电流IO=1A（75℃）
CR
晶体管测试仪
稳压电源
万用表
4
可焊性
用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MA
烙铁
小锡炉
5
材料
１所用材料与样品相符。
２与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装标识
１包装材料用料正确。
２小包装方式、数量无误。
３装箱方式、数量无误。
４（内包装、外箱）标识单内容正确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-014
受控状态：
12V稳压二极管类
修 改 页：
第 14 页 共 53 页
抽样来料检验标准：
依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
负极标志及字符丝印是否清晰可辩。
MI
目测
元件体
元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
按下图将稳压管电流调整在5mA时，其12V的
稳压管的允许稳压范围值在11.4V---12.7V为
正常（1分钟内无损坏）

稳压电源
V

CR
晶体管测试仪
稳压电源
万用表
示波器
4
可焊性
用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MA
烙铁
小锡炉
5
材料
1、 所用材料与样品相符。
2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装标识
1、 包装材料用料正确。
2、 小包装方式、数量无误。
3、 装箱方式、数量无误。
4、 （内包装、外箱）标识单内容正确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-015
受控状态：
18V稳压二极管
修 改 页：
第 15 页 共 53 页
抽样来料检验标准：
依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
负极标志及字符丝印是否清晰可辩。
MI
目测
元件体
元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
按下图将稳压管电流调整在5mA时，其18V的
稳压管的允许稳压范围值在16.8.V---19.1V为
正常（1分钟内无损坏）

稳压电源
V

CR
晶体管测试仪
稳压电源
万用表
示波器
4
可焊性
用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MA
烙铁
小锡炉
5
材料
1、 所用材料与样品相符。
2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装标识
1、 包装材料用料正确。
2、小包装方式、数量无误。
3、装箱方式、数量无误。
4、（内包装、外箱）标识单内容正确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-016
受控状态：
27V稳压二极管
修 改 页：
第 16 页 共 53页
抽样来料检验标准：
依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
负极标志及字符丝印是否清晰可辩。
MI
目测
元件体
元件体引脚是否氧化，是否有毛刺和破损。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
按下图将稳压管电流调整在5mA时，其27V的
稳压管的允许稳压范围值在25.1V---28.9V为
正常（1分钟内无损坏）

稳压电源
V

CR
晶体管测试仪
稳压电源
万用表
示波器
4
可焊性
用烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。
MA
烙铁
小锡炉
5
材料
1、所用材料与样品相符。
2、 与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装标识
1、 包装材料用料正确。
2、 小包装方式、数量无误。
3、 装箱方式、数量无误。
4、 （内包装、外箱）标识单内容正确。
MI
目测
拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-016A
受控状态：
1/2W稳压管
修 改 页：
第 16 A 页 共 53 页
抽样来料检验标准：
依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
1/2W参数
稳压值(V)
稳压值范围（精度±5﹪）
稳压值(V)
稳压值范围
3
2.85～3.15
43
40.85～45.15
3.3
3.13～3.47
47
44.65～49.35
3.6
3.42～3.78
51
48.45～53.55
3.9
3.7～4.1
56
53.2～58.8
4.3
4.08～4.52
62
58.9～65.1
4.7
4.46～4.94
68
64.6～71.4
5.1
4.84～5.36
75
71.25～78.75
5.6
5.32～5.88
82
77.9～86.1
6.2
5.89～6.51
91
86.45～95.55
6.8
6.46～7.14
100
95～105
7.5
7.12～7.88

8.2
7.79～8.61

9.1
8.64～9.56

10
9.5～10.5

11
10.45～11.55

12
11.4～12.6

13
12.35～13.65

15
14.25～15.75

16
15.2～16.8

18
17.1～18.9

20
19～21

22
20.9～23.1

24
22.8～25.2

27
25.65～28.35

30
28.5～31.5

33
31.35～34.65

36
34.2～37.8

39
37.05～40.95

拟制：
审核：
批准：
日期
日期
日期

来料检验标准
版 本：第三版
文件编号：WI/HV-12-017
受控状态：
三端精密稳压器（431BCZ）
修 改 页：
第17 页 共 53 页
抽样来料检验标准：
依据MIL-STD-105D-Ⅱ； MI：AQL=1.0；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4
MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷
精密稳压器： IC2 LM431BCZ TO-92
序号
检验
项目
检 验 标 准 及 要 求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
丝印是否清晰可辩，标识是否与来料相符。
MI
目测
元件体
检查三极管的引脚是否氧化，元件体是否有毛刺和破损。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图，符合实际装配。
MA
游标卡尺
3
电性