JJG 853-2013 低本底α、β测量仪-(高清版).pdf
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1、中华人民共和国国家计量检定规程J J G8 5 32 0 1 3低本底、测量仪L o wB a c k g r o u n dA l p h a/B e t aM e a s u r i n gI n s t r u m e n t s 2 0 1 3-0 8-1 5发布2 0 1 4-0 2-1 5实施国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布低本底、测量仪检定规程V e r i f i c a t i o nR e g u l a t i o no f t h eL o wB a c k g r o u n dA l p h a/B e t aM e a s u r i n g
2、I n s t r u m e n t sJ J G8 5 32 0 1 3替代J J G8 5 31 9 9 3 归 口 单 位:全国电离辐射计量技术委员会 起 草 单 位:中国计量科学研究院上海市计量测试技术研究院 本规程委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释J J G8 5 32 0 1 3本规程起草人:徐春长(中国计量科学研究院)梁珺成(中国计量科学研究院)何林锋(上海市计量测试技术研究院)陈 靖(中国计量科学研究院)J J G8 5 32 0 1 3目 录引言()1 范围(1)2 引用文件(1)3 术语和计量单位(1)3.1 术语(1)3.2 计量单位(1)4 概述(2)5 计量性能
3、要求(2)5.1 仪器本底(2)5.2 探测效率(2)5.3 重复性(2)5.4 串道比(2)6 通用技术要求(2)6.1 外观和标识(2)7 计量器具控制(2)7.1 检定条件(2)7.2 检定项目(3)7.3 检定方法(3)7.4 检定结果的处理(5)7.5 检定周期(5)附录A 检定记录格式式样(6)附录B 检定证书/检定结果通知书第三页式样(7)附录C 统计不确定度计算方法(9)J J G8 5 32 0 1 3引 言J J F1 0 0 22 0 1 0 国家计量检定规程编写规则、J J F1 0 0 12 0 1 1 通用计量术语及定义、J J F1 0 5 9.12 0 1 2
4、测量不确定度评定与表示共同构成支撑本规程修订工作的基础性系列规范。与J J G8 5 31 9 9 3相比,除编辑性修改外,本规程主要技术变化如下:取消低本底、测量仪的分级;取消要求受检用户提供1 0次,每次2 4小时的本底测量结果;取消稳定性检定项目;增加重复性检定项目(见5.3);强调本底、效率和重复性检定对测量计数统计性的要求(见7.3.2,7.3.3,7.3.4)。J J G8 5 32 0 1 3低本底、测量仪检定规程1 范围本规程适用于采用固体闪烁探测器和半导体探测器的低本底、测量仪的首次检定、后续检定和使用中检查,不适用于流气正比计数器以及液体闪烁计数器等类型测量仪器的检定。2
5、引用文件本规程引用下列文件:J J F1 0 3 52 0 0 6 电离辐射计量术语及定义G B/T1 1 6 8 22 0 0 8 低本底和/或测量仪I S O9 6 9 7:2 0 0 8 水质 无盐水中总活度测量 厚源法(W a t e r q u a l i t y-M e a s u r e-m e n to fg r o s sb e t aa c t i v i t y i nn o n-s a l i n ew a t e r-T h i c ks o u r c em e t h o d)I S O1 8 5 8 9-6:2 0 0 9环境中放射性活度测量 土壤 第6部分:总
6、与总的活度测量(M e a s u r e m e n to fr a d i o a c t i v i t yi nt h ee n v i r o n m e n t-S o i l-P a r t6:M e a s u r e m e n to fg r o s sa l p h aa n dg r o s sb e t aa c t i v i t i e s)凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规程;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本规程。3 术语和计量单位3.1 术语3.1.1 仪器本底 i n s t r u m e n t a l b a
7、c k g r o u n d仪器正常工作状态下,测量无放射性污染的空样品盘时的示值。3.1.2 表面发射率 s u r f a c ee m i s s i o nr a t e放射源在2 球面度内的发射率。3.1.3 标准平面源 r e f e r e n c ep l a n es o u r c e s性质和活度在某一确定的时间内都是已知的,并能用作参考的固态平面放射源。3.1.4 探测效率 d e t e c t i o ne f f i c i e n c y在一定探测条件下,探测器测得的计数率与被测源发射率的比值。3.1.5 串道比 i n t e r f e r er a t
8、i o(c r o s s t a l k)仪器测量单一或标准源时,在道或道的计数与和道的总计数之比。3.2 计量单位3.2.1 源表面发射率每分钟2 球面度,符号:(m i n2 s r)-1。3.2.2 单位面积平均本底计数率每平方厘米分钟,符号:c m-2m i n-1。1J J G8 5 32 0 1 34 概述低本底、测量仪主要由探测器单元、信号处理单元和屏蔽单元等组成。测量时,探测器记录入射的、粒子,计数率与样品中核素活度成正比。探测器单元由主探测器、反符合探测器等构成,置于屏蔽单元内。信号处理单元由计算机和测量主机构成。屏蔽单元一般由铅和钢等材料制成。低本底、测量仪主要应用于水质
9、监测、食品卫生、环境放射性评价与辐射防护等领域。5 计量性能要求5.1 仪器本底5.1.1 单位面积的粒子计数率0.0 1 7c m-2m i n-1。5.1.2 单位面积的粒子计数率0.5c m-2m i n-1。5.2 探测效率5.2.1 对于 6 5%。5.2.2 对于3 5%。5.3 重复性5.3.1 对于 2.5%。5.3.2 对于3.5%。5.4 串道比5.4.1 射线对道3%。5.4.2 射线对道1%。6 通用技术要求6.1 外观和标识6.1.1 仪器外观不应有影响其计量性能的外观缺陷。6.1.2 仪器应标明制造厂商或商标、规格型号、出厂编号和计量器具制造许可证编号等信息,其标识
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