JJG 343-2012光滑极限量规-(高清原版).pdf
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1、中华人民共和国国家计量检定规程J J G3 4 32 0 1 2光滑极限量规P l a i nL i m i tG a u g e s 2 0 1 2-0 3-2 0发布2 0 1 2-0 9-2 0实施国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布光滑极限量规检定规程V e r i f i c a t i o nR e g u l a t i o no fP l a i nL i m i tG a u ge sJ J G3 4 32 0 1 2代替J J G3 4 31 9 9 6 归 口 单 位:全国几何量工程参量计量技术委员会 主要起草单位:辽宁省计量科学研究院 参加起草单位:广
2、东省计量科学研究院 本规程委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释J J G3 4 32 0 1 2本规程主要起草人:石作德(辽宁省计量科学研究院)张 明(辽宁省计量科学研究院)张 瑜(辽宁省计量科学研究院)参加起草人:张 勇(广东省计量科学研究院)J J G3 4 32 0 1 2目 录引言()1 范围(1)2 引用文件(1)3 术语和计量单位(1)3.1 光滑极限量规(1)4 概述(1)5 计量性能要求(2)5.1 测量面的表面粗糙度(2)5.2 量规的形位误差(2)5.3 量规的尺寸(3)6 通用技术要求(5)7 计量器具控制(5)7.1 检定条件(5)7.2 检定项目(6)7.3
3、检定方法(6)7.4 检定结果的处理(9)7.5 检定周期(9)附录A 光滑塞规直径尺寸测量结果的不确定度评定报告(1 0)附录B 校对塞规直径尺寸测量结果的不确定度评定报告(1 4)附录C 量规的代号、使用规则、尺寸公差带及其位置(1 8)附录D 孔和轴的基本公差数值(1 9)附录E 全形塞规尺寸测量示例(2 4)附录F 检定证书/检定结果通知书内页信息及格式(2 5)J J G3 4 32 0 1 2引 言 J J G3 4 3 光滑极限量规的编写遵守J J F1 0 0 22 0 1 0 国家计量检定规程编写规则的规定,以J J F1 0 0 12 0 1 1 通用计量术语及定义、J J
4、 F1 1 3 02 0 0 5 几何量测量设备校准中的不确定度评定指南、G B/T1 9 5 72 0 0 6 光滑极限量规 技术条件、G B/T1 8 0 0.12 0 0 9 产品几何技术规范(G P S)极限与配合 第1部分:公差、偏差和配合的基础为基础和依据,对J J G3 4 31 9 9 6 光滑极限量规进行修订的。本规程替代J J G3 4 31 9 9 6 光滑极限量规,与J J G3 4 31 9 9 6 光滑极限量规相比,除编辑性修改外主要技术性变化如下:引用了G B/T1 9 5 72 0 0 6 光滑极限量规 技术条件中光滑极限量规的定义(见3.1);引用了G B/T
5、1 9 5 72 0 0 6 光滑极限量规 技术条件中对光滑极限量规尺寸的技术要求(见表2);删减了对硬度的技术要求;全形塞规的圆度、环规的圆度,母线直线度,卡规测量面的平面度,卡规测量面的平行度统一定义为量规的形位误差(见5.2);修订了对量规的形状和位置误差的技术要求(见5.3);增加了对校对塞规的技术要求(见5.3);增加了光滑塞规直径尺寸测量结果的不确定度评定报告(见附录A);增加了校对塞规直径尺寸测量结果的不确定度评定报告(见附录B);增加了量规的代号、使用规则、尺寸公差带及其位置(见附录C);增加了孔和轴的基本公差数值(见附录D);增加了检定证书和检定结果通知书内页信息及格式(见附
6、录F)。J J G3 4 31 9 9 6 光滑极限量规的历次版本发布情况为:J J G3 4 31 9 8 4 光滑极限量规。J J G3 4 32 0 1 2光滑极限量规检定规程1 范围本规程适用于孔与轴基本尺寸至5 0 0mm、公差等级I T 6级至I T 1 6级的校对、工作光滑极限量规的首次检定、后续检定和使用中检查。2 引用文件本规程引用下列文件:G B/T1 8 0 0.12 0 0 9 产品几何技术规范(G P S)极限与配合 第1部分:公差、偏差和配合的基础G B/T1 9 5 72 0 0 6 光滑极限量规 技术条件凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规程;凡是不注
7、日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本规程。3 术语和计量单位J J F1 0 0 12 0 1 1 通用计量术语及定义、G B/T1 9 5 72 0 0 6 光滑极限量规 技术条件中界定的及以下术语和定义适用于本规程。3.1 光滑极限量规 p l a i n l i m i tg a u g e s具有以孔或轴的最大极限尺寸或最小极限尺寸为公称尺寸的标准测量面,能反映控制被检孔或轴边界条件的无刻线长度测量器具。4 概述光滑极限量规(以下简称“量规”)主要分为塞规、环规和卡规三大类。塞规是用于孔径检验的光滑极限量规,其测量面为外圆柱面、球面等。其中,塞规尺寸具有被检孔径最小极
8、限尺寸的为孔用通规,具有被检孔径最大极限尺寸的为孔用止规。环规是用于轴径检验的光滑极限量规,其测量面为内圆环面。其中,圆环直径具有被检轴径最大极限尺寸的为轴用通规,具有被检轴径最小极限尺寸的为轴用止规。卡规是用于轴径检验的光滑极限量规,其测量面为两平行内表面。其中,两测量面的间距具有被检轴径最大极限尺寸的为轴用通规,具有被检轴径最小极限尺寸的为轴用止规。轴用光滑极限量规的结构形式如图1所示。孔用光滑极限量规的结构形式如图2所示。1J J G3 4 32 0 1 2a)环规b)双头卡规c)单头双极限卡规图1 轴用光滑极限量规的结构形式a)锥柄圆柱塞规b)单头非全形塞规c)片形塞规d)球端杆规图2
9、 孔用光滑极限量规的结构形式5 计量性能要求5.1 测量面的表面粗糙度量规测量面的表面粗糙度Ra应符合表1的规定。5.2 量规的形位误差量规的形位误差(包括圆度、母线直线度、平面度、平行度)应在其尺寸公差带2J J G3 4 32 0 1 2内。其公差为量规尺寸公差的5 0%。当量规尺寸公差小于或等于0.0 0 2mm时,其形位误差为0.0 0 1mm。5.3 量规的尺寸工作量规的尺寸应不大于表2的规定,表中T1为工作量规尺寸公差,Z1为通端工作量规尺寸公差带的中心线至工件最大实体尺寸之间的距离。校对塞规尺寸公差为被校对轴用工作量规尺寸公差的1/2;校对塞规的尺寸公差中包含形状误差。量规的代号
10、、使用规则、尺寸公差带及其位置见附录C。表1 量规测量面的表面粗糙度Ra工作量规工作量规的基本尺寸D/mmD1 2 01 2 0D3 1 53 1 5D5 0 0工作量规测量面的表面粗糙度Ra/mI T 6级孔用工作塞规0.0 50.1 00.2 0I T 7级 I T 9级孔用工作塞规0.1 00.2 00.4 0I T 1 0级 I T 1 2级孔用工作塞规0.2 00.4 0I T 1 3级 I T 1 6级孔用工作塞规0.4 00.8 00.8 0I T 6级 I T 9级轴用工作环规0.1 00.2 00.4 0I T 1 0级 I T 1 2级轴用工作环规0.2 00.4 0I T
11、 1 3级 I T 1 6级轴用工作环规0.4 00.8 00.8 0校对塞规校对塞规的基本尺寸D/mmD1 2 01 2 0D3 1 53 1 5D5 0 0校对量规测量面的表面粗糙度Ra/mI T 6级 I T 9级轴用工作环规的校对塞规0.0 50.1 00.2 0I T 1 0级 I T 1 2级轴用工作环规的校对塞规0.1 00.2 0I T 1 3级 I T 1 6级轴用工作环规的校对塞规0.2 00.4 00.4 03J J G3 4 32 0 1 2表2 光滑极限量规的尺寸单位:m工件基本尺寸D/mm工件孔或轴的公差等级I T 6I T 7I T 8I T 9I T 1 0I
12、T 1 1公差T1Z1公差T1Z1公差T1Z1公差T1Z1公差T1Z1公差T1Z1D36 1.01.0 1 0 1.21.6 1 4 1.62.0 2 5 2.0 34 0 2.4 46 0363D68 1.21.4 1 2 1.42.0 1 8 2.02.6 3 0 2.4 44 8 3.0 57 5486D1 09 1.41.6 1 5 1.82.4 2 2 2.43.2 3 6 2.8 55 8 3.6 69 0591 0D1 81 1 1.62.0 1 8 2.02.8 2 7 2.84.0 4 3 3.4 67 0 4.0 8 1 1 0 61 11 8D3 01 3 2.02.4
13、2 1 2.43.4 3 3 3.45.0 5 2 4.0 78 4 5.0 9 1 3 0 71 33 0D5 01 6 2.42.8 2 5 3.04.0 3 9 4.06.0 6 2 5.0 8 1 0 06.0 1 1 1 6 0 81 65 0D8 01 9 2.83.4 3 0 3.64.6 4 6 4.67.0 7 4 6.0 9 1 2 07.0 1 3 1 9 0 91 98 0D1 2 02 2 3.23.8 3 5 4.25.4 5 4 5.48.0 8 7 7.0 1 0 1 4 08.0 1 5 2 2 0 1 02 21 2 0D1 8 0 2 5 3.84.4 4
14、 0 4.86.0 6 3 6.09.01 0 08.0 1 2 1 6 09.0 1 8 2 5 0 1 22 51 8 0D2 5 0 2 9 4.45.0 4 6 5.47.0 7 2 7.01 0.01 1 59.0 1 4 1 8 51 0.02 0 2 9 0 1 42 92 5 0D3 1 5 3 2 4.85.6 5 2 6.08.0 8 1 8.01 1.01 3 01 0.01 6 2 1 01 2.02 2 3 2 0 1 63 23 1 5D4 0 0 3 6 5.46.2 5 7 7.09.0 8 9 9.01 2.01 4 01 1.01 8 2 3 01 4.02
15、 5 3 6 0 1 83 64 0 0D5 0 0 4 0 6.07.0 6 3 8.01 0.09 71 0.0 1 4.01 5 51 2.02 0 2 5 01 6.02 8 4 0 0 2 04 0工件基本尺寸D/mm工件孔或轴的公差等级I T 1 2I T 1 3I T 1 4I T 1 5I T 1 6公差T1Z1公差T1Z1公差T1Z1公差T1Z1公差T1Z1D31 0 0491 4 061 42 5 092 04 0 01 43 06 0 02 04 03D61 2 051 11 8 071 63 0 01 12 54 8 01 63 57 5 02 55 06D1 01 5
16、 061 32 2 082 03 6 01 33 05 8 02 04 09 0 03 06 01 0D1 81 8 071 52 7 01 02 44 3 01 53 57 0 02 45 0 11 0 0 3 57 51 8D3 02 1 081 83 3 01 22 85 2 01 84 08 4 02 86 0 13 0 0 4 09 03 0D5 02 5 01 02 23 9 01 43 46 2 02 25 0 10 0 0 3 47 5 16 0 0 5 01 1 05 0D8 03 0 01 22 64 6 01 64 07 4 02 66 0 12 0 0 4 09 0 1
17、9 0 0 6 01 3 08 0D1 2 03 5 01 43 05 4 02 04 68 7 03 07 0 14 0 0 4 61 0 022 0 0 7 01 5 01 2 0D1 8 0 4 0 01 63 56 3 02 25 2 10 0 0 3 58 0 16 0 0 5 21 2 025 0 0 8 01 8 01 8 0D2 5 0 4 6 01 84 07 2 02 66 0 11 5 0 4 09 0 18 5 0 6 01 3 029 0 0 9 02 0 02 5 0D3 1 5 5 2 02 04 58 1 02 86 6 13 0 0 4 51 0 021 0
18、0 6 61 5 032 0 01 0 0 2 2 03 1 5D4 0 0 5 7 02 25 08 9 03 27 4 14 0 0 5 01 1 023 0 0 7 41 7 036 0 01 1 0 2 5 04 0 0D5 0 0 6 3 02 45 59 7 03 68 0 15 5 0 5 51 2 025 0 0 8 01 9 040 0 01 2 0 2 8 04J J G3 4 32 0 1 26 通用技术要求量规的测量面不应有锈蚀、毛刺、黑斑、划痕等明显影响使用的外观缺陷。其他表面不应有锈蚀和裂纹。塞规的测头与手柄的联结应牢固可靠,在使用过程中不应松动。在量规的非测量面上
19、应标出制造商厂标、被检工件的基本尺寸、公差代号和量规的用途代号(单头双极限量规可不标志)。7 计量器具控制7.1 检定条件7.1.1 检定环境条件检定前,量规应放在室内平衡温度,各种量规最短平衡温度时间见表3。检定量规尺寸时,室内温度要求见表4。表3 平衡温度时间单位:h对应工件I T等级的量规全形塞规与校对规置于铸铁平板置于木板D5 0mm5 0mmD1 0 0mmD5 0mm5 0mmD1 0 0mm6834459,1 023451 11 61234对应工件I T等级的量规非全形塞规、球端杆规、环规、卡规置于铸铁平板置于木板D5 0mm5 0mmD1 0 0mm1 0 0mmD5 0 0m
20、mD5 0mm5 0mmD1 0 0mm1 0 0mmD5 0 0mm681343349,1 01332331 11 6122122表4 检定量规尺寸时室内温度要求单位:对应工件I T等级的量规(比较测量)工作量规的基本尺寸D/mmD5 05 0D1 2 01 2 0D5 0 0682 032 022 0191 62 032 022 02绝对测量2 022 012 017.1.2 检定器具主要检定器具见表5。5J J G3 4 32 0 1 27.2 检定项目检定项目见表5。表5 检定项目和主要检定计量器具一览表序号检定项目主要检定计量器具检定类型首次检定后续检定使用中检查1外观 +2测量面的
21、表面粗糙度表面粗糙度测量仪MP E:1 0%表面粗糙度比较样块MP E:+1 2%-1 7%+-3量规的形位误差全形塞规、环规的圆度圆度仪MP E:5%+-母线直线度轮廓仪MP E:5%刀口形直尺MP ES:1.0m研磨面平尺MP E V:0.1 5m+-卡规测量面的平面度刀口形直尺MP ES:1.0m平面平晶:2级+-卡规两测量面的平行度测长仪MP E:(1m+51 0-6L)测长机MP E:(0.6m+51 0-6L)卧式光学计MP E:0.2 5m+-4量规的尺寸光学计MP E:0.2 5m测长仪MP E:(1m+51 0-6L)测长机MP E:(0.6m+51 0-6L)孔径测量仪MP
22、 E:0.4m高精度测长机MP E:(0.1 5m+0.6 71 0-6L)量块:3等、4等+注:表中“+”表示应检定,“-”表示可不检定。7.3 检定方法7.3.1 外观目力观察,手动试验。7.3.2 测量面的表面粗糙度用表面粗糙度比较样块以比较法进行测量。在进行比较时,所用的表面粗糙度样块和被检测量面的加工方法应该相同,表面粗糙度样块的材料、形状、表面色泽等也应尽可能与被检测量面一致。判断的准则是根据被检测量面加工痕迹的深浅来决定表面粗糙度是否符合要求,当被检测量面的加工痕迹深浅不超过表面粗糙度样块工作面加工痕迹深度时,则测量面的表面粗糙度一般不超过表面粗糙度样块的标称值。6J J G3
23、4 32 0 1 27.3.3 量规的形位误差7.3.3.1 全形塞规、环规的圆度全形塞规、环规的圆度用圆度仪测量。测量时选择15 0挡位滤波,并用最小区域法进行评定,允许用能够满足测量不确定度要求的其他方法进行测量。7.3.3.2 母线直线度用带有直线度附件的轮廓测量仪进行测量,也可用刀口尺或研磨面平尺以光隙法进行测量。允许用能够满足测量不确定度要求的其他方法进行测量。7.3.3.3 卡规测量面的平面度对于基本尺寸大于或等于1 8mm的卡规,用刀口尺或平面平晶进行测量。距测量面边缘0.5mm以内允许塌边。允许用能够满足测量不确定度要求的其他方法进行测量。7.3.3.4 卡规两测量面的平行度在
24、卧式光学计或万能测长仪上安装内测附件,对卡规测量面的5个点(见图3)进行测量,所得的5个尺寸中最大值与最小值之差为测量面的平行度。允许用能够满足测量不确定度要求的其他方法进行测量。图3 卡规测量面平行度测量图示7.3.4 量规的尺寸量规尺寸的测量方法选择见表6,允许用能够满足测量不确定度要求的其他方法进行测量。7.3.4.1 全形、非全形塞规测量全形、非全形塞规通、止端的尺寸时应选用刀口形测头,全形塞规在,方向上于A,B两个截面的四个位置进行测量;非全形塞规在,方向上于A,B两个截面的六个位置进行测量(见图4)。A,B两个截面原则上位于距量规工作长度端各H/5处(H为量规工作长度)。7.3.4
25、.2 球端杆规测量球端杆规的尺寸时,应将被检杆规安装在仪器工作台的V形块上,两支点设在距端部为全长的2/9处,用平测头进行测量。7.3.4.3 环规测量环规的尺寸时,应选用球测头,在,方向上于A,B两个截面的四个位置进行测量(见图5),A,B两个截面原则上位于距量规工作长度端各H/5处(H为量7J J G3 4 32 0 1 2规工作长度)。a)全形塞规的测量位置b)非全形塞规的测量位置图4 全形、非全形塞规的测量位置图5 环规的测量位置7.3.4.4 卡规测量卡规的尺寸时,可在卧式光学计或万能测长仪上安装内测附件,选用相应等级的量块和量块附件进行比较测量。8J J G3 4 32 0 1 2
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