GA∕T 1091-2019 基于13.56MHz的电子证件芯片环境适应性评测规范(公共安全).pdf
《GA∕T 1091-2019 基于13.56MHz的电子证件芯片环境适应性评测规范(公共安全).pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《GA∕T 1091-2019 基于13.56MHz的电子证件芯片环境适应性评测规范(公共安全).pdf(17页珍藏版)》请在咨信网上搜索。
1、ICS 35.020 A 90 GA 中 华 人 民 共 和 国 公 共 安 全 行 业 标 准 GA/T 109120XX 代替 GA 1091-2013 基于 13.56MHz 的电子证件芯片 环境适应性评测规范 Specifications for evaluation of environmental adaptability of integrated circuits on 13.56MHz in electronic certificates 点击此处添加与国际标准一致性程度的标识 (报批稿) XXXX - XX - XX 发布 XXXX - XX - XX 实施 中华人民共和国
2、公安部 发 布 GA/T 109120XX I 目 次 前言 . III 1 范围 . 1 2 规范性引用文件 . 1 3 术语和定义 . 1 4 符号和缩略语 . 2 5 一般要求 . 2 6 试验项目 . 2 6.1 交变磁场 . 2 6.2 静电放电敏感度 . 3 6.3 变化场强 . 3 6.4 变化频率 . 4 6.5 变化调制深度 . 5 6.6 组合状态副载波调制信号幅度 . 5 6.7 稳定性烘焙 . 7 6.8 低温存贮 . 7 6.9 温度循环 . 8 6.10 高压蒸煮 . 8 6.11 动态弯曲 . 9 6.12 动态扭曲 . 9 6.13 振动疲劳 . 9 6.14
3、冲击 . 10 6.15 模塑料与框架粘合强度 . 10 6.16 点压力 . 11 6.17 制卡工艺匹配性 . 11 7 评测规则 . 11 7.1 评测分类 . 11 7.2 抽样规则 . 13 7.3 判定规则 . 13 8 评测报告 . 14 GA/T 109120XX II 前 言 本标准按照GB/T 1.12009给出的规则起草。 本标准代替GA 1091-2013基于13.56MHz的电子证件芯片环境适应性评测规范,与GA 1091-2013相比主要变化如下: 修改为推荐性标准。 标准提出单位改为公安部治安管理局(见前言,2013年版的前言); 修改了规范性引用文件ISO/IE
4、C 10373-6:2016(见第2章,2013年版的第2章); 修改了规范性引用文件ISO/IEC 14443-1:2016(见第2章,2013年版的第2章); 修改了规范性引用文件ISO/IEC 14443-2:2016(见第2章,2013年版的第2章)。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本标准由公安部治安管理局提出。 本标准由公安部计算机与信息处理标准化技术委员会归口。 本标准起草单位:公安部第一研究所。 本标准主要起草人:隋洪波、周东平、肖婷婷、张文直、周鹏、韩鹏霄。 本标准所代替标准的历次版本发布情况: GA 1091-2013。GA/
5、T 109120XX 1 基于 13.56MHz 的电子证件芯片环境适应性评测规范 1 范围 本标准规定了基于13.56MHz的电子证件芯片电气、气候、机械环境和制卡工艺匹配性的试验项目、试验方法,以及环境适应性评测规则。 本标准适用于采用13.56MHz射频工作模式的电子证件芯片评测。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。 凡是注日期的引用文件, 仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击 GB/T 2829-2002
6、周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验) GB/T 17554.1-2006 识别卡 测试方法 第1部分:一般特性测试 GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验 GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 ISO/IEC 10373-6:2016 识别卡 测试方法 第6部分:邻近式卡(Identification cards Test methods Part 6: Proximity cards) ISO/IEC 14443-1:2016 识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分:物理特性(Identification card
7、s Contactless integrated circuit cards Proximity cards Part 1:Physical characteristics) ISO/IEC 14443-2:2016 识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第2部分:射频功率和信号接口(Identification cards Contactless integrated circuit cards Proximity cards Part 2: Radio frequency power and signal interface) 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3.1 样品 sa
8、mple 将芯片以规定的材料和工艺封装形成的构件。 3.2 样品卡 sample card 含有样品和天线线圈,且能与射频读卡器通信的塑料卡。 GA/T 109120XX 2 3.3 TypeA 芯片 TypeA integrated circuit 采用ISO/IEC14443-2:2016中定义的Type A通信协议工作的芯片。 3.4 TypeB 芯片 TypeB integrated circuit 采用ISO/IEC14443-2:2016中定义的Type B通信协议工作的芯片。 4 符号和缩略语 下列符号和缩略语适用于本文件。 HvA:卡体短边位移。 HvB:卡体长边位移。 :卡体
9、扭转角度。 RF:射频(Radio Frequency)。 5 一般要求 一般要求为: a) 依据评测目标选择本文件规定的试验项目; b) 样品提供方应向评测机构提供样品通信的传输协议; c) 本文件所述样品或样品卡读写功能测试是指:先向样品或样品卡中写入数据,然后读取数据,若读出数据与写入数据一致,视为样品或样品卡读写功能正常;否则,视为样品或样品卡读写功能异常; d) 对样品测试时,应先将样品连接在与其匹配的天线线圈上,然后使用射频读卡器进行测试;对样品卡测试时,直接使用射频读卡器进行测试; e) 样品或样品卡读写测试失效不应包含天线失效、样品卡的卡体失效。 6 试验项目 6.1 交变磁场
10、 6.1.1 目的 确定交变磁场对样品读写功能的影响。 6.1.2 试验要求 试验要求为: a) 将样品封装成样品卡; b) 频率:13.56 MHz; c) 磁场强度:平均10 A/m(rms),最大不超过12 A/m(rms); GA/T 109120XX 3 d) 暴露时间:30 s。 6.1.3 试验方法 按照 ISO/IEC 14443-1:2016中4. 4的要求执行后对样品卡进行读写功能测试。 6.1.4 失效判据 样品卡读写功能异常视为样品失效。 6.2 静电放电敏感度 6.2.1 目的 确定静电对样品读写功能的影响。 6.2.2 试验要求 试验要求为: a) 电压等级:不小于
11、3000 V; b) 放电方式: 1) 端子 1 对端子 2 进行放电; 2) 端子 2 对端子 1 进行放电; 3) 端子 1 对“底”进行放电; 4) 端子 2 对“底”进行放电; 5) “底”对端子 1 进行放电; 6) “底”对端子 2 进行放电; c) 放电次数及间隔:每种方式放电3次,间隔1 s 以上。 6.2.3 试验方法 按照 GJB 548B-2005中方法3015中3.13.3的要求执行后对样品进行读写功能测试。 6.2.4 失效判据 样品读写功能异常视为失效。 6.3 变化场强 6.3.1 目的 确定场强变化对样品读写功能的影响。 6.3.2 试验要求 试验要求为: a)
12、 将样品封装成样品卡; b) 按照ISO/IEC 14443-2:2016中6.2规定,产生场强值分别为1.5A/m、3.5A/m、5.5A/m、7.5A/m的 RF工作场; c) 按照ISO/IEC 14443-2:2016中8.1和 9.1规定分别产生TypeA芯片和TypeB芯片通信信号调制波形。 6.3.3 试验方法 GA/T 109120XX 4 在每个试验点上对样品卡进行读写功能测试(见表1和表2)。 表 1 TypeA芯片变化场强测试 工作场强 A/m 调制深度 % 1.5 100 3.5 5.5 7.5 表 2 TypeB芯片变化场强测试 工作场强 A/m 调制深度 % 1.5
13、 10 3.5 5.5 7.5 6.3.4 失效判据 在任何一个试验点上,样品卡读写功能异常视为样品失效。 6.4 变化频率 6.4.1 目的 确定载波频率变化对样品读写功能的影响。 6.4.2 试验要求 试验要求为: a) 将样品封装成样品卡; b) 设置载波频率分别为13.567 MHz 、13.56 MHz和13.553 MHz; c) 按照ISO/IEC 14443-2:2016中8.1和 9.1规定分别产生TypeA芯片和TypeB芯片通信信号调制波形。 6.4.3 试验方法 在每个试验点上对样品卡进行读写功能测试(具体见表3和表4)。 表 3 TypeA芯片变化频率测试 载波频率
14、MHz 调制深度 % 13.553 100 13.56 13.567 GA/T 109120XX 5 表 4 TypeB芯片变化频率测试 载波频率 MHz 调制深度 % 13.553 10 13.56 13.567 6.4.4 失效判据 在任何一个试验点上,样品卡读写功能异常视为样品失效。 6.5 变化调制深度 6.5.1 目的 确定调制深度变化对TypeB芯片样品读写功能的影响。 6.5.2 试验要求 试验要求为: a) 将样品封装成样品卡; b) 按照ISO/IEC 14443-2:2016中9.1规定产生TypeB芯片通信信号调制波形。 6.5.3 试验方法 在每个试验点上对样品卡进行读
15、写功能测试(见表5)。 表 5 变化调制深度测试 调制深度 % 载波频率 MHz 工作场强 A/m 8 13.56 4.5 10 12 14 6.5.4 失效判据 在任何一个试验点上,样品卡读写功能异常视为样品失效。 6.6 组合状态副载波调制信号幅度 6.6.1 目的 确定频率、场强和调制深度组合变化对样品电性能的影响。 6.6.2 试验要求 试验要求为: a) 将样品封装成样品卡; b) 按照ISO/IEC 14443-2:2016中8.1和 9.1规定分别产生TypeA芯片和TypeB芯片通信信号调制波形。 6.6.3 试验方法 GA/T 109120XX 6 按照ISO/IEC 103
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- GAT 1091-2019 基于13.56MHz的电子证件芯片环境适应性评测规范公共安全 GA 1091 2019 基于 13.56 MHz 电子 证件 芯片 环境 适应性 评测 规范 公共安全
1、咨信平台为文档C2C交易模式,即用户上传的文档直接被用户下载,收益归上传人(含作者)所有;本站仅是提供信息存储空间和展示预览,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容不做任何修改或编辑。所展示的作品文档包括内容和图片全部来源于网络用户和作者上传投稿,我们不确定上传用户享有完全著作权,根据《信息网络传播权保护条例》,如果侵犯了您的版权、权益或隐私,请联系我们,核实后会尽快下架及时删除,并可随时和客服了解处理情况,尊重保护知识产权我们共同努力。
2、文档的总页数、文档格式和文档大小以系统显示为准(内容中显示的页数不一定正确),网站客服只以系统显示的页数、文件格式、文档大小作为仲裁依据,平台无法对文档的真实性、完整性、权威性、准确性、专业性及其观点立场做任何保证或承诺,下载前须认真查看,确认无误后再购买,务必慎重购买;若有违法违纪将进行移交司法处理,若涉侵权平台将进行基本处罚并下架。
3、本站所有内容均由用户上传,付费前请自行鉴别,如您付费,意味着您已接受本站规则且自行承担风险,本站不进行额外附加服务,虚拟产品一经售出概不退款(未进行购买下载可退充值款),文档一经付费(服务费)、不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
4、如你看到网页展示的文档有www.zixin.com.cn水印,是因预览和防盗链等技术需要对页面进行转换压缩成图而已,我们并不对上传的文档进行任何编辑或修改,文档下载后都不会有水印标识(原文档上传前个别存留的除外),下载后原文更清晰;试题试卷类文档,如果标题没有明确说明有答案则都视为没有答案,请知晓;PPT和DOC文档可被视为“模板”,允许上传人保留章节、目录结构的情况下删减部份的内容;PDF文档不管是原文档转换或图片扫描而得,本站不作要求视为允许,下载前自行私信或留言给上传者【曲****】。
5、本文档所展示的图片、画像、字体、音乐的版权可能需版权方额外授权,请谨慎使用;网站提供的党政主题相关内容(国旗、国徽、党徽--等)目的在于配合国家政策宣传,仅限个人学习分享使用,禁止用于任何广告和商用目的。
6、文档遇到问题,请及时私信或留言给本站上传会员【曲****】,需本站解决可联系【 微信客服】、【 QQ客服】,若有其他问题请点击或扫码反馈【 服务填表】;文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“【 版权申诉】”(推荐),意见反馈和侵权处理邮箱:1219186828@qq.com;也可以拔打客服电话:4008-655-100;投诉/维权电话:4009-655-100。
链接地址:https://www.zixin.com.cn/doc/85691.html