GB∕T 36165-2018 金属平均晶粒度的测定 电子背散射衍射(EBSD)法.pdf
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1、ICS 77.040.99 日24中华人民共和国国家标准GB/T 36165-2018 金属平均晶粒度的测定电子背散射衍射(EBSD)法2018-05-14发布Determination of average grain size of metal-Electron backscatter diffraction (EBSD) method 国家市场监督管理总局申非中国国家标准化管理委员会a叩2019-02-01实施G/T 36165-2018 目次前言. .皿引言. . . . . . . . . N 1 范围-2 规范性引用文件-3 术语和定义4 原理25 设备26 取样37 试样制备.
2、. . . . . . . . . . . . . .3 8 校准与核查. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3 9 测量步骤310 检验报告. 附录A(规程性附录)根据平均等积困直径计算晶粒度级别I G/ T 36165-2018 刚昌本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。本标准由中国钢铁工业协会提出。本标准出全国钢标准化技术委员会CSAC/TC183)归口。本标准起草单位:首钢集团有限公司、冶金工业信息标准研究院、江苏省沙钢钢铁研究院有限公司、江苏沙钢集团有限公司。本标准主要起草人:尹立新、鞠新华、崔桂彬、架燕、孟杨、任群、
3、严春莲、吴园园、林涛铸、郝京丽、张坷、汩娟、胡显军。mN GBjT 36165-2018 l 引本标准的EBSD方法根据晶体取向划分晶粒,适用于所有晶体结构类型。本标准的EBSD方法对晶界很难用传统金相方法显示的金属材料较适用。本标准的EBSD方法比金相法分辨率高,适用于晶粒细小的金属材料。本标准还适用于复相材料主相组织平均晶粒尺寸的定量分析。GB/T 36165-2018 1 范围金属平均晶粒度的测定电子背散射衍射CEBSD)法本标准规定了采用电子背散射衍射(EBSD)测定晶粒度方法的原理、设备、取样、试样制备、校准与核查、测量步骤。本标准适用于测量完全再结晶的多晶金属材料的平均晶粒度。其他
4、能产生高质量高标定率电子背散射衍射花样的晶体材料可参照此方法执行。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/ T 13298 金属显微组织检验方法GB/ T 19501 微柬分析电子背散射衍射分析方法通则GB/ T 27788微柬分析扫描电镜图像放大倍率校准导则GB/ T 30067 金相学术语YB/ T 4377 金属试样的电解抛光方法3 术语和定义GB/T 19501和GB/T30067界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1 电子背散射衍射elec
5、tron backscatter diffraction;EBSD 通过扫描电镜中电子束在倾倒(约700)样品表层激发出的菊池衍射花样确定晶体结构、取向及相关信息的方法。3.2 电子背散射衍射花样EBSD pattern 由菊池衍射带组成的花样,根据衍射花样的几何特征可以确定激发区域晶体的类型和取向。3.3 (晶体)取向(crystaUographic) orientation 晶体坐标系和样品坐标系的相互关系。例如在立方晶系中,晶体的三个晶输10吨,010J和OOlJ在样品生是标系如轧板的轧向、横向和法向的相对方位。注:晶体取向可以有多种方法描述如欧拉角、方向余弦矩阵或旋转罗德里格斯)矢量.
6、3.4 取向差misorientation 一个数据点的取向相对另一数据点取向的转动关系,使两个晶格完全重合的最小转动角度。I G/T 36165-2018 3.5 晶内最大取向差misorientation tolerance 品粒内部两个相邻数据点之间取向差的最大值。3.6 晶粒grain 取向接近的相邻数据点的集合。同一晶粒内部取向是基本一致的,与相邻的晶粒之间具有一定的取向差。3.7 取向圄orientation map 根据扫描网络中给每个数据点的取向定义该点的颜色,整个扫描网络形成一个显示微观取向分布的图像。3.8 标定indexing 电子束与样品内某一品格相互作用所形成的电子背
7、散射衍射花样与该晶格的晶体取向相匹配的过程。3.9 3.10 步长step size A EBSD扫描时相邻数据点之间的距离。降喋cleanup 用未标定点周围若干巴标定点的物相和平均取向填充未标定点的过程。计算用巴标定点的数量由网格类型决定,六方网格16,矩形网格18。3.11 小晶粒grain smaJler than a defined minimul 仅有几个数据点组成的误标晶粒。4 原理4.1 用EBSD方法测量金属的平均晶粒度是指对样品的EBSD面扫描数据进行处理,根据各扫描点的取向划分品位。4.2 平均晶粒度是由晶粒的平均面积计算得出,品粒的平均面积由视场内的扫描点数量和扫描步长
8、决定。5 设备5.1 安装有电子背散射衍射(EBSD)附件的扫描电子显微镜(SEM)。电子背散射衍射(EBSD)系统由硬件和软件组成。5.2 EBSD系统硬件包括探头部分利控制部分,探头部分由外表面的磷屏幕及屏幕后的CCD相机组成,探头将采集到的EBSD花样传送到计算机软件进行标定。控制部分控制电子束进行逐点扫描或控制样品台移动。5.3 EBSD系统软件是指计算机系统中的EBSD软件包,包括EBSD花样的采集标定软件,EBSD数据处理软件。G/ T 36165-2018 6 取样6.1 试样应在交货状态材料上切取。取祥部位与数量按产品标准或技术条件规定。如果产品标准或技术条件未规定,则在钢材半
9、径或边长1月处截取。如对试样表面晶粒进行检测,建议试样厚度不大于5 mm。6.2 切取试样应避开因剪切、加热影响的区域。不能使用有改变晶粒结构的方法切取试样。7 试样制备7.1 有加工变形晶粒的试样检验平行于加工方向的检验面(纵截面),必要时还应检验垂直于加工方向的检验面(横截面)。等轴晶桂可以随机选取检验丽。7.2 试样的磨平和机械抛光按GB/T13298执行,电解抛光按YB/T4377执行。7.3 试样检验面最后宜用低速机械抛光或(和)电解抛光、振动抛光、离子刻蚀等去除表面应力。试样无需侵蚀显示晶界。7.4 试样抛光表丽直径应大于5mm。8 校准与核查8.1 扫描电镜放大倍数的校准按GB/
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